[发明专利]改善一次性可编程存储器使用性能的方法及装置

说明书

技术领域

本发明主要涉及半导体技术，尤其涉及改善一次性可编程存储器使用性能的方法及装置。

背景技术

一次性可编程(OTP，One Time Programmable)存储器可以是用于在各种计算机相关应用中(例如在蜂窝式电话、个人数字助理等小型手持式数字装置中)提供非易失性存储器的有效且低成本机构。

在现有技术中，OTP存储器大量应用在嵌入式控制芯片中，作为控制芯片的数据的存储介质，其中，数据是指芯片的设置参数数据及用户程序。

研究人员在研究中发现，现有技术中的OTP存储器在数据烧录至的过程中，并不能验证烧录至的数据是否出现错误，必需等到所有的数据都烧录至后，再将烧录至的数据读取出来与原来的数据进行对比分析，若出现数据内容不一致，即存在坏块时，则将该OTP存储器作为不良品，不能正常使用，导致OTP存储器良品率低，且由于OTP芯片在多次使用后，其中存储的数据也有可能发生变化，生成坏块，嵌入式芯片运行错误的用户程序将导致芯片运行不正常甚至使得使用该芯片的产品产生误操作，因此，现有技术中OTP存储器的良品率低，且难以确保OTP存储器中的用户程序稳定可靠的运行。

发明内容

本发明实施例提供了一种改善一次性可编程存储器使用性能的方法及装置，用于OTP存储器的数据烧录及确保OTP存储器中的用户程序能够稳定可靠的运行。

本发明实施例中的方法包括：确定OTP存储器中空片OTP区块及OTP区块存储空间的大小；将待烧录数据按照OTP区块的存储空间的大小划分数据块；确定起始数据块及起始空片OTP区块；将数据块烧录到OTP区块中，启动循环冗余校验码CRC电路生成数据块对应的CRC码；根据CRC码，启动CRC电路对OTP区块中的数据进行CRC校验；若OTP区块中的数据未通过CRC校验，则确定下一个待烧录数据的空片OTP区块，返回执行将数据块烧录到OTP区块中，启动CRC电路生成数据块对应的CRC码的步骤；若OTP区块中的数据通过CRC校验，则将OTP区块的偏移地址、有效标记位及数据块的CRC码写入OTP存储器对应的配置表中；判断数据块是否为待烧录数据的最后一个数据块；若数据块不是待烧录数据的最后一个数据块，确定下一个待烧录的数据块及下一个待烧录数据的空片OTP区块，返回执行将数据块烧录到OTP区块中，启动CRC电路生成数据块对应的CRC码的步骤；若数据块为待烧录数据的最后一个数据块，则停止数据烧录；确定下一个待烧录数据的空片OTP区块，将配置表烧录到OTP区块中。

本发明实施例中的方法包括：OTP存储器所在的芯片上电后，芯片中的中央处理器CPU获取OTP存储器中校验正确的配置表；根据配置表，获取OTP存储器中保存的有效OTP区块；依次对有效OTP区块进行CRC校验，将校验正确的OTP区块的偏移地址保存在CPU的寄存器中。

本发明实施例中的装置包括：

获取单元，用于确定OTP存储器中将要烧录数据的OTP区块及OTP区块存储空间的大小，及将待烧录数据按照OTP区块的存储空间的大小划分数据块，确定起始数据块及起始空片OTP区块；

数据烧录处理单元，用于将数据块烧录到OTP区块中，启动循环冗余校验码CRC电路生成数据块对应的CRC码；对OTP区块中的数据进行两次CRC校验，根据CRC码，启动CRC电路对OTP区块中的数据进行CRC校验；若OTP区块中的数据未通过CRC校验，则确定下一个待烧录数据的空片OTP区块，返回执行将数据块烧录到OTP区块中，启动CRC电路生成数据块对应的CRC码的步骤；若OTP区块中的数据通过CRC校验，则将OTP区块的偏移地址、有效标记位及数据块的CRC码写入OTP存储器对应的配置表中；判断数据块是否为待烧录数据的最后一个数据块；若数据块不是待烧录数据的最后一个数据块，确定下一个待烧录的数据块及下一个待烧录数据的空片OTP区块，返回执行将数据块烧录到OTP区块中，启动CRC电路生成数据块对应的CRC码的步骤；若数据块为待烧录数据的最后一个数据块，则停止数据烧录；

配置表烧录单元，用于确定下一个待烧录数据的空片OTP区块，将配置表烧录到OTP区块中。

本发明实施例中的装置包括：

配置表获取单元，OTP存储器所在的芯片上电后，获取OTP存储器中校验正确的配置表；

区块获取单元，用于根据配置表，获取OTP存储器中保存的有效OTP区块；

校验保存单元，用于依次对有效OTP区块进行CRC校验，将校验正确的OTP区块的偏移地址保存在CPU的寄存器中。