[发明专利]改善一次性可编程存储器使用性能的方法及装置

权利要求书

1.一种改善一次性编程OTP存储器使用性能的方法，其特征在于，包括：

确定OTP存储器中空片OTP区块及所述OTP区块存储空间的大小；

将待烧录数据按照所述OTP区块的存储空间的大小划分数据块；

确定起始数据块及起始空片OTP区块；

将所述数据块烧录到所述OTP区块中，启动循环冗余校验码CRC电路生成所述数据块对应的CRC码；

根据所述CRC码，启动CRC电路对所述OTP区块中的数据进行CRC校验；

若所述OTP区块中的数据未通过CRC校验，则确定下一个待烧录数据的空片OTP区块，返回执行所述将所述数据块烧录到所述OTP区块中，启动CRC电路生成所述数据块对应的CRC码的步骤；

若所述OTP区块中的数据通过CRC校验，则将所述OTP区块的偏移地址、有效标记位及所述数据块的CRC码写入所述OTP存储器对应的配置表中；

判断所述数据块是否为所述待烧录数据的最后一个数据块；

若所述数据块不是所述待烧录数据的最后一个数据块，所述确定下一个待烧录的数据块及下一个待烧录数据的空片OTP区块，返回执行所述将所述数据块烧录到所述OTP区块中，启动CRC电路生成所述数据块对应的CRC码的步骤；

若所述数据块为所述待烧录数据的最后一个数据块，则停止数据烧录；

确定下一个待烧录数据的空片OTP区块，将所述配置表烧录到所述OTP区块中。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定OTP存储器中空片OTP区块及所述OTP区块存储空间的大小具体包括：

若所述OTP存储器为第一次进行数据烧录，则根据待烧录数据的数据量的大小，将所述OTP存储器的存储空间划分为至少两个OTP区块；

将所述OTP区块的存储空间的大小写入所述OTP存储器对应的配置表中；

或者，

若所述OTP存储器为非第一次进行数据烧录，则从所述OTP存储器的配置表中获取空片OTP区块的偏移位置及OTP区块的大小。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述则将所述OTP区块的偏移地址、有效标记位及所述数据块的CRC码写入所述配置表中之后还包括：

判断所述数据块是否已经完成两次有效的烧录到OTP区块的过程，若否，则确定下一个待烧录数据的空片OTP区块，返回执行所述启动CRC电路生成所述数据块对应的CRC码，将所述数据块烧录到所述OTP区块中的步骤。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述配置表烧录到所述OTP区块中包括：

将所述配置表烧录到所述OTP区块中，启动CRC电路生成所述配置表对应的CRC码；

根据所述CRC码，启动所述CRC电路对所述OTP区块中的数据进行CRC校验；

若所述OTP区块中的数据通过CRC校验，则将所述配置表的CRC码保存到所述配置表中，设置所述配置表的标识码，当所述配置表已完成两次有效的烧录之后，停止所述配置表的烧录；

若所述OTP区块中的数据未通过CRC校验，则所述确定下一个待烧录数据的空片OTP区块，返回执行所述启动CRC电路生成所述配置表对应的CRC码，将所述配置表烧录到所述OTP区块中的步骤。

5.一种改善一次性编程OTP存储器使用性能的方法，其特征在于，包括：

OTP存储器所在的芯片上电后，所述芯片中的中央处理器CPU获取所述OTP存储器中校验正确的配置表；

根据所述配置表，获取所述OTP存储器中保存的有效OTP区块；

依次对所述有效OTP区块进行CRC校验，将校验正确的OTP区块的偏移地址保存在所述CPU的寄存器中。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述依次对所述有效OTP区块进行CRC校验，将校验正确的OTP区块的偏移地址保存在所述CPU的寄存器中具体包括：

获取起始有效OTP区块；

对所述OTP区块中的数据进行CRC校验；

当所述OTP区块中的数据通过校验时，将所述OTP区块的偏移地址保存到所述CPU的寄存器中，确定下下一个有效OTP区块的位置，返回执行所述对所述OTP区块中的数据进行CRC校验的步骤；

当所述OTP区块中的数据未通过校验时，确定下一个有效OTP区块的位置，返回执行所述对所述OTP区块中的数据进行CRC校验的步骤。