[发明专利]一种基于支持向量分类的多测点平面度评定方法

权利要求书

1.一种基于支持向量分类的多测点平面度评定方法，其特征在于，所述方法包括：

对被测表面上的点进行采样，获取各点的三维坐标测量值；

计算测量点集对应的最小二乘平面，并以该最小二乘平面为基准剔除残差绝对值小的测量点；

将绝对值大的测量点分别沿着最小二乘平面法向的正向和负向移动相同距离形成线性可分的正类点集和负类点集；

利用线性分类的支持向量机方法计算出正类点集和负类点集的最大间隔平面，并利用该平面计算出平面度值。

2.根据权利要求1所述的基于支持向量分类的多测点平面度评定方法，其特征在于，所述剔除残差绝对值小的测量点具体步骤包括：

以原始测量点集为D₀＝{(x_i，y_i，，z_i，)，i＝1，…，l}，最小二乘平面的方程为z＝Ax+By+C；按最小二乘法，目标函数为：

minS＝∑(zi-z)2＝∑(zi-Ax_i-By_i-C)²    (1)

由式(1)确定A、B、C的值，即确定最小二乘平面的位置；

计算每个测量点相对于最小二乘平面在Z轴方向的残差绝对值|e|_i：

|e|_i＝|z_i-Ax_i-By_i-C|    (2)

最大残差记为|e|_max，剔除残差绝对值|e_i|小于或等于k×|e|_max(k∈(0，1))的测量点，保留残差绝对值|e_i|大于k×|e|_max(k∈(0，1))的测量点，从而组成新的测量点集D₁＝{(x_i，y_i，z_i，)，i＝1，…，m}。

3.根据权利要求1所述的基于支持向量分类的多测点平面度评定方法，其特征在于，所述正类点集和负类点集构造过程包括：

将新测量点集D₁＝{(x_i，y_i，z_i，)，i＝1，…，m}分别沿着最小二乘平面法向量n(A，B，-1)的正方向移动形成正类点集D₁⁺＝{(x′_i，y′_i，，z′_i，)，i＝1，…，m}；沿着最小二乘平面法向量的负方向移动形成负类点集D₁^-＝{(x″_i，y″_i，，z″_i，)，i＝1，…，m}。

4.根据权利要求1或3所述的基于支持向量分类的多测点平面度评定方法，其特征在于，利用线性分类的支持向量机方法对正负类点集D₁⁺D₁^-进行分类，得到最大间隔平面z＝A₀x+B₀y+C₀，该平面是原始测量点的最大区域平面，各测量点到最大间隔平面的距离为d_i，则所求平面度值f_MZ＝d_max-d_min。