[发明专利]一种LED芯片发光角度、分布的测试方法无效
| 申请号： | 201110309198.8 | 申请日： | 2011-10-13 |
| 公开（公告）号： | CN102445270A | 公开（公告）日： | 2012-05-09 |
| 发明（设计）人： | 王礼中;薛旭杰;陶淳;张黎鑫;李玉荣;樊美荣 | 申请（专利权）人： | 上海蓝光科技有限公司 |
| 主分类号： | G01J1/00 | 分类号： | G01J1/00;G01C1/00 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人： | 李仪萍 |
| 地址： | 201210 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 led 芯片 发光 角度 分布 测试 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种LED芯片发光角度、分布的测试方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：
步骤一，选择LED支架，在该LED支架的中心或圆心上点上少量银胶或绝缘胶；
步骤二，采用背面刺晶的方式将芯片粘在银胶或绝缘胶上，并保证芯片在LED支架上左右、上下对称；
步骤三，将带有LED芯片的LED支架放在烤箱中烘烤，时间为30～50分钟；
步骤四，将带有LED芯片的LED支架沿β方向或α方向选取测试点测试其发光强度Iv值；
步骤五：将步骤四中测试点对应的角度做为横坐标X轴，发光强度Iv值为纵坐标Y轴；将测试点对应的角度上对应的发光强度连接起来形成的曲线；并将曲线与极坐标1/2处两边的交点与0°度做连线，两条连线的夹角形成的角度即为发光角度。
2.如权利要求1所述的一种LED芯片发光角度的测试方法，其特征在于，所述步骤一中选择平底且不具备聚光效果的LED支架。
3.如权利要求1所述的一种LED芯片发光角度的测试方法，其特征在于，所述步骤三中将带有LED芯片的LED支架放在烤箱中烘烤45分钟。
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