[发明专利]一种硬质B-C-N光学薄膜在审
| 申请号: | 201110307485.5 | 申请日: | 2011-10-11 |
| 公开(公告)号: | CN102321872A | 公开(公告)日: | 2012-01-18 |
| 发明(设计)人: | 戴圣英 | 申请(专利权)人: | 宁波市瑞通新材料科技有限公司 |
| 主分类号: | C23C14/35 | 分类号: | C23C14/35;C23C14/06;G02B1/10 |
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| 地址: | 315177 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 硬质 光学薄膜 | ||
技术领域
本发明涉及一种材料表面薄膜,尤其是一种硬质B-C-N光学薄膜。
背景技术
根据金刚石和立方BN(c-BN)的机构相似性,人们理论上预期能够合成B-C-N三元薄膜,并期望其能够兼具金刚石的超高硬度以及c-BN高温稳定性、抗氧化性等。而经过广泛的实验研究证实,合成B-C-N三元薄膜确实可行,并且B-C-N三元薄膜也确实与金刚石和立方BN一样具有超高的硬度,此外,与金刚石、氮化碳等硬质涂层相比,其还具有高温化学稳定性优异、薄膜的内应力低等无可比拟的使用优点,特别是B-C-N三元薄膜还是一种新型的人工合成的宽带隙材料,可望作为一种新兴的光电材料而广泛使用。
但目前对于B-C-N三元薄膜的研究还主要集中于其力学性能,对于其作为光学薄膜的研究和应用都较少。特别是对于B-C-N三元薄膜作为光学薄膜的组成控制、厚度控制、与基体的紧密附着、薄膜内应力的消除等问题上,仍然存在各种各样的不足,成为制约B-C-N光学薄膜广泛应用的障碍。
发明内容
针对上述问题,本发明的目的即在于为射频磁控溅射B-C-N光学薄膜制备方法选择合适的工艺参数,从而获得一种与基体结合紧密的高性能硬质B-C-N光学薄膜的制备方法。
为解决上述技术问题,本发明所采用的技术方案如下:
首先,将玻璃基体材料分别用丙酮、酒精和去离子水等在超声波清洗器中各清洗约10min后,用氮气吹干备用。
随后,将基体材料置于真空室内的样品台上,并将石墨/硼复合靶置于靶位,其中所述的石墨/硼复合靶是将环状的硼套在圆片状的石墨外,且石墨与硼的面积比在2.5∶1-2∶1之间,石墨的纯度为99.999%、硼的纯度为99.9%,石墨/硼复合靶与基体材料距离为7-8cm。
随后将真空室内真空度抽到≤5×10-4Pa,同时通入流量为8-10sccm的Ar,当真空室气压为2-4Pa时,预溅射2-3min,预溅射的功率为50-70W,以进一步清洗基体材料的成膜表面。
随后开始通入流量为3.5-4.5sccm的N2,并维持Ar的流量为8-10sccm、真空室气压为1-1.5Pa、基体材料的负偏压为100-150V,将基体材料的温度控制为250-300℃,移开石墨/硼复合靶的挡板,以110-120W功率进行溅射,溅射时间为70-90min,以形成B-C-N光学薄膜。
随后维持Ar的惰性气氛,在700-750℃条件下对薄膜实施退火处理,处理时间为70-90min。
本发明的优点是:在玻璃基体表面形成的B-C-N薄膜与基体具有良好的结合性能;同时,选用了合适的石墨/硼复合靶以及相应的溅射工艺参数,获得了接近于BC2N化学计量比的高性能薄膜;在惰性气氛下,采用尽可能高的热处理温度对薄膜实施热处理,以减小薄膜内应力。
具体实施方式
下面,通过具体的实施例对本发明进行详细说明。
一种硬质B-C-N光学薄膜,其由射频(13.56MHz)磁控溅射制得,具体由以下制备步骤得到:
首先,将玻璃基体材料分别用丙酮、酒精和去离子水等在超声波清洗器中各清洗约10min后,用氮气吹干备用。
随后,将基体材料置于真空室内的样品台上,并将石墨/硼复合靶置于靶位,其中所述的石墨/硼复合靶是将环状的硼套在圆片状的石墨外,且石墨与硼的面积比在2.2∶1,石墨的纯度为99.999%、硼的纯度为99.9%,石墨/硼复合靶与基体材料距离为8cm。
随后将真空室内真空度抽到≤5×10-4Pa,同时通入流量为9sccm的Ar,当真空室气压为3Pa时,预溅射2min,预溅射的功率为60W,以进一步清洗基体材料的成膜表面。
随后开始通入流量为4sccm的N2,并维持Ar的流量为9sccm、真空室气压为1.5Pa、基体材料的负偏压为130V,将基体材料的温度控制为270℃,移开石墨/硼复合靶的挡板,以110W功率进行溅射,溅射时间为80min,以形成B-C-N光学薄膜。
随后维持Ar的惰性气氛,在720℃条件下对薄膜实施退火处理,处理时间为80min。
经测试,硬质B-C-N薄膜的厚度约为135nm,薄膜表面的元素的原子百分含量为22.7B-51.5C-25.8N,表面的硬度约为14GPa。薄膜的可见光区平均透光率约为87%。
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