[发明专利]集成电路产业含氟废水处理方法无效
申请号: | 201110305095.4 | 申请日: | 2011-10-10 |
公开(公告)号: | CN103030234A | 公开(公告)日: | 2013-04-10 |
发明(设计)人: | 李建雄;方程冉;陶松垒;乔静兵;郑彬理;石伟峰 | 申请(专利权)人: | 浙江科技学院 |
主分类号: | C02F9/04 | 分类号: | C02F9/04;C02F1/52;C02F1/56;C02F1/66;C02F101/14 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 310023 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 集成电路 产业 废水处理 方法 | ||
1.一种集成电路产业含氟废水处理方法,采用三级反应一级沉淀的工艺,包括含氟废水收集池、一级反应槽、二级反应槽、三级反应槽、沉淀槽、排放水槽、污泥槽和污泥脱水机,其特征是:含氟废水通过含氟废水收集池的进水口进入含氟废水收集池,含氟废水收集池管道连接至一级反应槽,在一级反应槽中加入氢氧化钙和氯化钙,一级反应槽管道连接至二级反应槽,在二级反应槽中加入PAC,二级反应槽管道连接至三级反应槽,在三级反应槽中加入PAM,三级反应槽管道连接至沉淀槽,沉淀槽一根管道连接至排放水槽,一根管道连接至污泥槽,污泥槽管道连接至污泥脱水机。
2.根据权利要求1所述的集成电路产业含氟废水处理方法,其特征是:含氟废水收集池采用钢混凝土结构,内净尺寸为4300mm×2200mm×3700mm,有效水深2.20米,有效容积20.8m3,水力停留时间4.2h,池内设穿孔管进行空气搅拌,池壁内衬玻璃钢防腐,1座。废水池内设置2台CFY65-50-160型液下泵,1用1备。
3.根据权利要求1所述的集成电路产业含氟废水处理方法,其特征是:化学反应系统共设三级反应槽,每级反应槽结构相同,反应槽槽体为钢结构,且内衬玻璃钢防腐。净尺寸为1200mm×1200mm×2500mm,有效水深2.35m,泥斗高0.95m,有效容积3.4m,水力停留时间0.68h,附搅拌装置。
4.根据权利要求1所述的集成电路产业含氟废水处理方法,其特征是:斜管沉淀槽槽体为钢结构,且内衬玻璃钢防腐。净尺寸为4000mm×2500mm×4400mm,1只。表面负荷0.5m/(m·h),沉淀时间3h,重力排泥,分设2个泥斗。
5.根据权利要求1所述的集成电路产业含氟废水处理方法,其特征是:排放水槽槽体为钢结构,且为内衬玻璃钢防腐。净尺寸为2000mm×1000mm×2500mm,1只。有效水深2.00m,有效容积4.0m3,槽内设穿孔管进行空气搅拌。
6.根据权利要求1所述的集成电路产业含氟废水处理方法,其特征是:污泥处理系统中污泥以含水率99.5%计,总产量约为4m3/d,经厢式压滤机(型号XM15/800-UB,1台)脱水后,每天产生含水率80%的泥饼0.15t左右,最终将其外运送有资质的固废处理单位委托处置。
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