[发明专利]一种高性能芯片封装结构无效

专利信息
申请号: 201110305069.1 申请日: 2011-10-11
公开(公告)号: CN102403281A 公开(公告)日: 2012-04-04
发明(设计)人: 徐子旸 申请(专利权)人: 常熟市广大电器有限公司
主分类号: H01L23/31 分类号: H01L23/31;H01L23/495;H01L23/367
代理公司: 苏州广正知识产权代理有限公司 32234 代理人: 张利强
地址: 215500 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 性能 芯片 封装 结构
【权利要求书】:

1.一种高性能芯片封装结构,该高性能芯片封装结构包括金属引脚架、基板、芯片、散热片和封装体,其特征在于,所述的金属引脚架的封装端采用“Y”型结构,成对使用时可与焊接在其内部的基板形成一芯片容置腔,所述的芯片处于芯片容置腔内,并粘结在基板上,所述的散热片一端穿过金属引脚架之间的间隙与基板相连,另一端部伸出封装体。

2.根据权利要求1所述的高性能芯片封装结构,其特征在于,所述的芯片与基板之间一般采用热固型粘胶进行固定连接,然后通过金线进行电性连接。

3.根据权利要求1所述的高性能芯片封装结构,其特征在于,所述的芯片容置腔的上、下部均封装有基板及芯片,上、下芯片之间保持一定距离。

4.根据权利要求3所述的高性能芯片封装结构,其特征在于,所述的芯片容置腔的大小由基板及芯片的规格确定,芯片之间的距离能避免封装时金线发生接触而降低使用性能。

5.根据权利要求1所述的高性能芯片封装结构,其特征在于,所述的散热片与基板之间采用导热胶连接,同时,散热片与所接触的金属引脚架端部的间隙内设有密封胶。

6.根据权利要求5所述的高性能芯片封装结构,其特征在于,所述的散热片一般采用铜或铝合金材料制成。

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