[发明专利]一种用于测量低波数拉曼信号的单光栅拉曼光谱测试系统

说明书

技术领域

本发明涉及拉曼光谱测试技术领域，尤其涉及一种用于测量低波数拉曼信号的单光栅拉曼光谱测试系统，可用于超低频率拉曼光谱学。

背景技术

众所周知，随着现代科技的发展，各种应用于拉曼光谱测试的滤光片应运而生。这些滤光片使得不再需要数个单色仪来过滤激发光，从而让拉曼光谱仪变得非常小巧。到目前为止，使用陷波滤光片和边带滤光片的单光栅拉曼光谱仪已经占据了主要的拉曼光谱仪市场。在这里，陷波滤光片和边带滤光片既起着将激发光反射到样品上的作用，又起着过滤散射信号中瑞利线的作用。

在拉曼光谱测量中，很多时候人们希望获得非常靠近激发光的低波数拉曼信号，但传统的配备陷波滤光片和边带滤光片的单光栅拉曼光谱仪一般仅能测到高于50波数的拉曼信号。而低于50波数的拉曼光谱信号通常需要三光栅拉曼光谱仪来测量。这时，由于光栅和反射镜等效率的原因，三光栅拉曼光谱仪的光谱信号透过率通常只有单光栅拉曼光谱仪的1/10，甚至更低。由于很多低波数拉曼信号的强度都非常弱，这就为广泛地研究各种测量的低波数拉曼信号带来很大的困难。

因此，如何利用单光栅拉曼光谱仪这种光谱信号透过率高的特点来测量低波数拉曼信号，是当前拉曼光谱测量技术所需要迫切解决的一个问题。

发明内容

(一)要解决的技术问题

有鉴于此，本发明的主要目的在于提供一种用于测量低波数拉曼信号的单光栅拉曼光谱测试系统，以利用单个光栅测量低到5波数的低波数拉曼信号，并同时测量位于激发光两侧的斯托克斯和反斯托克斯拉曼信号。

(二)技术方案

为达到上述目的，本发明提供了一种用于测量低波数拉曼信号的单光栅拉曼光谱测试系统，包括：激光源Ls体光栅带通滤光片VGBF，位于激光光路上，用于过滤掉激光的等离子线而纯化激光线；分束器BS，位于体光栅带通滤光片VGBF将激光反射后的光路上，将经体光栅带通滤光片VGBF纯化的激光反射到显微物镜Ob1；显微物镜Ob1，用于将激光聚焦到样品Sp上来激发拉曼光谱信号；三个依次排列的体光栅陷波滤光片(VGNF1、VGNF2、VGNF3)，位于样品拉曼信号光经显微物镜Ob1收集并穿过分束器BS之后的光路上；聚焦透镜Ob2，用于将拉曼信号汇聚入单光栅光谱仪Spec的入口处；以及含探测器的单光栅光谱仪Spce，用来收集拉曼信号。

上述方案中，所述体光栅带通滤光片VGBF的带宽小于10波数，衍射效率大于90％。

上述方案中，所述三个体光栅陷波滤光片(VGNF1、VGNF2、VGNF3)的衰减均大于99.9％。

上述方案中，所述三个体光栅陷波滤光片(VGNF1、VGNF2、VGNF3)的带宽均小于10波数。

(三)有益效果

从上述技术方案可以看出，本发明具有以下有益效果：

1、本发明提供的用于测量低波数拉曼信号的单光栅拉曼光谱测试系统，可以用来探测小至5波数的拉曼光谱信号，使显微拉曼光谱仪在测低波数拉曼光谱方面比红外光谱仪更具有显著的优势。

2、本发明提供的用于测量低波数拉曼信号的单光栅拉曼光谱测试系统，可以应用于显微拉曼测试，用来测试低波数拉曼光谱信号。

附图说明

为进一步说明本发明的内容及特点，以下结合附图及实施例对本发明方法作一详细的描述，其中：

图1是本发明提供的用于测量低波数拉曼信号的单光栅拉曼光谱测试系统的结构示意图。

图2是利用本发明提供的单光栅拉曼光谱测试系统所测的一种有机无机复合半导体β-ZnTe(en)0.5的低波数拉曼谱。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本发明进一步详细说明。

目前所有的单光栅拉曼光谱仪都使用传统的陷波滤光片和边带滤光片来测量拉曼光谱。这使得单光栅拉曼光谱仪一般仅能测到高于50波数的拉曼信号。要实现单光栅拉曼光谱仪的低波数拉曼光谱的测量，就必须采用截止波数带宽很小的陷波滤光片。目前，较为成熟的新型陷波滤光片为利用体光栅做的陷波滤光片，简称体光栅陷波滤光片，其截止波数带宽可小到10波数。同时，利用体光栅做的带通滤光片的带通波数带宽可小到7波数。