[发明专利]发光二极管封装结构的制造方法无效
| 申请号: | 201110267396.2 | 申请日: | 2011-09-09 |
| 公开(公告)号: | CN103000768A | 公开(公告)日: | 2013-03-27 |
| 发明(设计)人: | 林新强;曾文良 | 申请(专利权)人: | 展晶科技(深圳)有限公司;荣创能源科技股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 518109 广东省深圳市宝*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 发光二极管 封装 结构 制造 方法 | ||
1.一种发光二极管封装结构的制造方法,包括以下步骤:
步骤一,提供基板;
步骤二,设置发光二极管芯片于基板上;
步骤三,在基板上形成封装体,该封装体覆盖于发光二极管芯片上;
步骤四,利用工具将封装体的顶面平整为平面。
2.如权利要求1所述的发光二极管封装结构的制造方法,其特征在于:步骤三之前还包括在所述基板上形成有反射杯,该反射杯的中央形成容置部,所述发光二极管芯片容置于该容置部内。
3.如权利要求2所述的发光二极管封装结构的制造方法,其特征在于:所述封装体填充于所述容置部内。
4.如权利要求3所述的发光二极管封装结构的制造方法,其特征在于:所述封装体填满所述容置部,且该封装体的顶部高出所述反射杯。
5.如权利要求4所述的发光二极管封装结构的制造方法,其特征在于:平整后的封装体的顶面与反射杯的顶面齐平。
6.如权利要求1所述的发光二极管封装结构的制造方法,其特征在于:在步骤三之前,还包括在所述基板两侧分别设置有挡板,所述挡板与基板共同围设成容置部,所述发光二极管芯片容置于该容置部内。
7.如权利要求6所述的发光二极管封装结构的制造方法,其特征在于:所述封装体填充于所述容置部内。
8.如权利要求7所述的发光二极管封装结构的制造方法,其特征在于:所述封装体填满所述容置部,且该封装体的顶部高出所述挡板。
9.如权利要求8所述的发光二极管封装结构的制造方法,其特征在于:平整后的封装体的顶面与挡板的顶面齐平。
10.如权利要求1-9中任一项所述的发光二极管封装结构的制造方法,其特征在于:所述步骤四为利用研磨工具将封装体的顶面研磨为平面。
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