[发明专利]形成非平面晶体管的方法有效
| 申请号: | 201110266577.3 | 申请日: | 2011-09-09 |
| 公开(公告)号: | CN103000518A | 公开(公告)日: | 2013-03-27 |
| 发明(设计)人: | 戴圣辉;黄瑞民;蔡振华;蔡世鸿;林建廷 | 申请(专利权)人: | 联华电子股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336;H01L21/28;H01L21/762 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 彭久云 |
| 地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 形成 平面 晶体管 方法 | ||
1.一种形成非平面晶体管的方法,包括:
提供基底,该基底上定义有有源区以及周边区;
于该基底的该有源区中形成多个超浅沟槽隔离;
移除各超浅沟槽隔离的部分,以使各超浅沟槽隔离间暴露出的该基底构成多个鳍状结构;
于该基底上的该有源区以及该周边区上形成导电层,并覆盖各鳍状结构;
图案化该导电层,使得该导电层在该周边区中形成平面晶体管的栅极,而同时于该有源区中形成至少一非平面晶体管的栅极;以及
于该非平面晶体管的该栅极两侧的该鳍状结构中形成源极/漏极。
2.如权利要求1的形成非平面晶体管的方法,其中该导电层包括多晶硅或金属。
3.如权利要求1的形成非平面晶体管的方法,其中该基底还包括隔离区包围该有源区。
4.如权利要求3的形成非平面晶体管的方法,其中还包括在该隔离区中形成浅沟槽隔离。
5.如权利要求4的形成非平面晶体管的方法,先形成该浅沟槽隔离后,再形成该超浅沟槽隔离。
6.如权利要求4的形成非平面晶体管的方法,先形成该超浅沟槽隔离后,再形成该浅沟槽隔离。
7.如权利要求4的形成非平面晶体管的方法,还包括:
在该基底上形成掩模层;
图案化该掩模层,以在该隔离区中形成第一图案化掩模层;
以该第一图案化掩模层为掩模蚀刻该基底,以在该隔离区中形成第一沟槽,并在该第一沟槽中填入第一绝缘层以形成该浅沟槽隔离;
图案化该掩模层,以在该有源区中形成第二图案化掩模层;以及
以该第二图案化掩模层为掩模蚀刻该基底,以在该有源区中形成至少一第二沟槽,并在该第二沟槽中填入第二绝缘层以形成该超浅沟槽隔离。
8.如权利要求4的形成非平面晶体管的方法,其中形成该多个鳍状结构的步骤包括:
于该基底上形成图案化掩模层,该图案化掩模层具有开口,且该开口的侧壁对应设置于最靠近该隔离区的该超浅沟槽隔离上;以及
以该图案化掩模层为掩模进行蚀刻工艺,以形成该多个鳍状结构。
9.如权利要求4的形成非平面晶体管的方法,其中该浅沟槽隔离在基底中的深度为2000埃至3000埃。
10.如权利要求4的形成非平面晶体管的方法,其中该超浅沟槽隔离在基底中的深度为200至500埃。
11.如权利要求1的形成非平面晶体管的方法,其中该平面晶体管的该栅极与该非平面晶体管的该栅极具有相同的水平高度。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于联华电子股份有限公司,未经联华电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110266577.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:新型冲水箱
- 下一篇:一种催化含氧芳烃加氢脱氧制备液体烷烃燃料的方法
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





