[发明专利]分光测量装置有效
| 申请号： | 201110262087.6 | 申请日： | 2011-09-06 |
| 公开（公告）号： | CN102478429A | 公开（公告）日： | 2012-05-30 |
| 发明（设计）人： | 舟本达昭 | 申请（专利权）人： | 精工爱普生株式会社 |
| 主分类号： | G01J3/00 | 分类号： | G01J3/00;G01J3/10 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 吴孟秋;梁韬 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 分光 测量 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种分光测量装置，其特征在于，该分光测量装置将可见光波长区域的光分光，并且包括：
第一光源，发射在所述可见光波长区域中无峰值波长、并且随着波长由短波向长波的增大光量增大的光；
第二光源，发射在所述可见光波长区域中具有峰值波长的光；
光混合器，将从所述第一光源和所述第二光源发射的光混合；
波长可变干涉滤波器，所述光混合器混合的光入射至所述波长可变干涉滤波器，并且，所述混合的光的入射光中的特定波长的光透过所述波长可变干涉滤波器；
光接收部，接收透过所述波长可变干涉滤波器的光；以及
测量控制部，转换透过所述波长可变干涉滤波器的光的波长，并基于所述光接收部接收到的光来测量透过所述波长可变干涉滤波器的光的分光特性。
2.根据权利要求1所述的分光测量装置，其特征在于，
所述第二光源在385nm以上、450nm以下的范围内具有峰值波长。
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