[发明专利]可控功率倒装阵列LED芯片及其制造方法无效
| 申请号: | 201110214740.1 | 申请日: | 2011-07-29 |
| 公开(公告)号: | CN102244087A | 公开(公告)日: | 2011-11-16 |
| 发明(设计)人: | 邓朝勇;杨利忠;李绪诚;张荣芬;许铖 | 申请(专利权)人: | 贵州大学 |
| 主分类号: | H01L27/15 | 分类号: | H01L27/15;H01L33/00 |
| 代理公司: | 贵阳中新专利商标事务所 52100 | 代理人: | 吴无惧 |
| 地址: | 550025 贵州*** | 国省代码: | 贵州;52 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 可控 功率 倒装 阵列 led 芯片 及其 制造 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种倒装阵列LED芯片及其制造方法,尤其涉及一种包括多量子阱有源区的GaN基可控倒装阵列蓝光LED芯片结构及其制造方法。
背景技术
白光LED具有亮度高、节能环保等优点,已经成为最有潜力的照明光源之一。白光LED的能耗仅为白炽灯的1/8,荧光灯的1/2,其寿命可长达10万小时。这对普通家庭明来说可谓“一劳永逸”,同时还可实现无汞化,回收容易等优点,对环境保护和节约能源具有重要意义。
目前制备大功率白光LED的方法主要是在蓝色或近紫外LED芯片上涂覆黄色荧光粉,通过混色得到白光。这种通过蓝光LED的得到白光的方法,构造简单、成本低廉、技术成熟度高,因此运用广泛。大多数5W以上的大功率白光LED是由大功率的蓝光LED芯片制成的。所以制造大功率蓝光LED芯片是制作大功率白光LED的基础。
目前,调节发光亮度的LED主要是通过以下几种方式:第一、单个LED芯片主要是控通过LED芯片的电流来调节发光亮度;第二、多个LED芯片的组合通过控制多个LED芯片的开关来调节发光亮度。但是由于每个LED芯片可能不是同一批次生产的电学性能和光学性能会有不同,通过以上的控制方法连接设计和电源驱动,组合芯片发光的协调性、一致性较差。
目前单色显示屏在户外广告和小型移动数码设备上都有应用,所以发展LED单色显示屏也有很广的应用前景。
发明内容
本发明要解决的技术问题是,提供一种可控功率倒装阵列LED芯片,该芯片能有效调节大功率蓝光LED倒装芯片的发光亮度,还可作为单色显示屏使用,通过控制行列的扫描达到显示字符的目的;此外本发明还提供一种该芯片的制造方法,以克服现有技术存在的LED芯片发光亮度调节困难等不足。
本发明的可控功率倒装阵列LED芯片结构为:阵列LED芯片由多个阵列单元构成阵列,其中所有的阵列单元每一行的p电极层连接到一起,每一列的n电极层连接到一起,这样可以单独控制每个阵列单元发光;所述阵列单元是蓝宝石衬底上方依次覆盖n型缓冲层、n型半导体层、有源层、p型半导体层、透明电极层、p电极层;每一列阵列单元的n电极层连接在一起;并且全部n电极层和p电极层由绝缘层包覆;在绝缘层包覆的p电极层窗口上方的p电极连接金属层使每一行的p电极连接到一起。蓝宝石衬底的出光面为粗糙化表面,以提高出光率;在p电极连接金属层表面还有钝化层。芯片的p电极层采用光反射率较高的银或铝等金属来增加光反射,并且完全覆盖每一个阵列单元的透明电极层。
其中,LED芯片出光面为蓝宝石衬底,采用蓝宝石(Al2O3);并对出光面进行有组织的表面粗糙化处理形成粗糙化表面,以减少出光表面对光的反射,提高出光率,改善LED的发光效率。
所述的n型半导体层和p型半导体层是由GaN、或GaAs、或AlGaN半导体材料构成;其中n型半导体层掺入的杂质是Si等材料,p型半导体层掺入的杂质是Mg等材料;有源层采用多层的InGaN层和GaN层,形成多量子阱层。
本发明的LED芯片由彼此相互独立的阵列单元构成阵列。但是每一列阵列单元n电极层是连接在一起的;n电极层的材料材料包括Cu、Ti、Al、Ni或Au金属,采用其中的单一金属或组合金属;p电极层采用对可见光反射率很高的金属Ag或Al,并且完全覆盖每一个阵列单元的透明电极层;
在绝缘层包覆的p电极层窗口上方的p电极连接金属层使每一行的p电极连接到一起;p电极连接金属层的材料包括Cu、Ti、Al、Ni或Au金属,采用其中的单一金属或组合金属。
绝缘层和钝化层是由SiOx、SiNx或SiOxNy等绝缘材料构成;透明电极层采用金属薄膜Ni/Au或氧化铟锡(ITO)制作。
本发明的可控功率倒装阵列LED芯片的制造方法,包括以下制造步骤:
步骤一,在蓝宝石衬底生长低掺杂的n型缓冲层,再生长高掺杂的n型半导体层;
步骤二,生长有源层,生长为单层的InGaN,或者交替生长为多个周期的InGaN层和GaN层,形成多量子阱层;
步骤三,在步骤二的基础上生长p型半导体层;
步骤四,沉积透明电极层和p电极层;
步骤五,在步骤四的基础上进行光刻和刻蚀,露出n型缓冲层和芯片的隔离槽,为n电极的沉积做准备;
步骤六,沉积金属层,并进行光刻和刻蚀,形成每一行都连接到一起的n电极层;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于贵州大学,未经贵州大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110214740.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种电源开关
- 下一篇:运用V形沟槽的硅基砷化镓材料的制备
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的





