[发明专利]大功率倒装阵列LED芯片及其制造方法有效
申请号: | 201110214627.3 | 申请日: | 2011-07-29 |
公开(公告)号: | CN102270633A | 公开(公告)日: | 2011-12-07 |
发明(设计)人: | 邓朝勇;杨利忠;李绪诚;张荣芬;许铖 | 申请(专利权)人: | 贵州大学 |
主分类号: | H01L25/075 | 分类号: | H01L25/075;H01L33/48;H01L33/62;H01L33/64;H01L33/20;H01L33/00 |
代理公司: | 贵阳中新专利商标事务所 52100 | 代理人: | 吴无惧 |
地址: | 550025 贵州*** | 国省代码: | 贵州;52 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 大功率 倒装 阵列 led 芯片 及其 制造 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种倒装阵列LED芯片及其制造方法,尤其涉及一种包括多量子阱有源区的GaN基倒装阵列蓝光LED芯片结构及其制造方法。
背景技术
白光LED具有亮度高、节能环保等优点,已经成为最有潜力的照明光源之一。白光LED的能耗仅为白炽灯的1/8,荧光灯的1/2,其寿命可长达10万小时。这对普通家庭明来说可谓“一劳永逸”,同时还可实现无汞化,回收容易等优点,对环境保护和节约能源具有重要意义。
目前制备大功率白光LED的方法主要是在蓝色或近紫外LED芯片上涂覆黄色荧光粉,通过混色得到白光。这种通过蓝光LED的得到白光的方法,构造简单、成本低廉、技术成熟度高,因此运用广泛。大多数5W以上的大功率白光LED是由大功率的蓝光LED芯片制成的。所以制造大功率蓝光LED芯片是制作大功率白光LED的基础。
但是,目前光取出效率低和散热能力差是大功率LED面临的主要技术瓶颈。传统结构的LED芯片光取出效率低主要受以下几个因素的影响:1)材料本身对光的吸收;2)p电极上键合焊点和引线对光的遮挡;3)材料的折射率不同,在界面上发生反射,而导致光不易从高折射率的GaN材料传至低折射率的外围空气。4)电流分布不均匀。在p电极下的部分电流密度大,发光强,老化快。而在p电极以外的区域电流密度小,发光弱,老化慢。
大功率LED一般工作在350mA电流下,散热对LED器件的性能和寿命至关重要。pn结的工作温度一般在110-120℃之间,但在设计中,应当考虑长期工作的情况下,pn结尽量保持在100℃左右,温度每升高10℃,光通量就会衰减1%,LED的发光波长就会漂移1-2nm。如果不能将芯片产生的热量及时的散出,将无法获得稳定的光输出和维持正常的器件寿命。对于GaN基的LED,其有源层在中心位置,远离散热体,蓝宝石衬底也是热的不良导体,散热的问题将更为严重。
发明内容
本发明要解决的技术问题是,提供一种大功率倒装阵列LED芯片及其制造方法,能够有效提高大功率蓝光LED倒装芯片的发光效率和散热能力,以克服现有技术存在的发光效率低、散热差等不足。
本发明的大功率倒装阵列LED芯片包括衬底、n型半导体层、有源层、p型半导体层、电极层、绝缘层、外接金属层和钝化层,阵列LED芯片是由多个阵列单元构成阵列,其中相邻阵列单元都共用一个n型半导体层;所述阵列单元是蓝宝石衬底上方依次覆盖n型缓冲层、n型半导体层、有源层、p型半导体层、透明电极层、p电极层;相邻两个阵列单元之间是n电极;并且n电极和p电极层由绝缘层包覆;在绝缘层包覆的p电极层窗口上方覆盖外接金属散热层;且在外接金属散热层表面还有钝化层。
蓝宝石衬底的出光面处理为粗超化表面。
倒装LED芯片的n型半导体层和p型半导体层是由GaN、GaAs或AlGaN等半导体材料构成;其中n型层掺入的杂质是Si等材料,p型层掺入的杂质是Mg等材料。
倒装阵列LED芯片的有源层是单层的InGaN,或者是多层的InGaN层和GaN层,形成多量子阱层。
所有芯片阵列单元的n型半导体层是连通的,并且相邻两个阵列单元共用位于其间的n电极;n电极的材料包括Cu、Ti、Al、Ni或Au金属,采用其中单一金属或组合金属。
p电极层采用金属Ag或Al,并且完全覆盖每一个阵列单元的透明电极层;
外接金属散热层的材料包括Cu、Ti、Al、Ni或Au金属,采用其中单一金属或组合金属。
绝缘层和钝化层是由SiOx、SiNx或SiOxNy绝缘材料构成。
透明电极层采用金属薄膜Ni/Au或氧化铟锡(ITO)制作。
本发明的大功率倒装阵列LED芯片的制造方法,包括以下制造步骤:
步骤一、在蓝宝石衬底生长低掺杂的n型缓冲层,生长高掺杂的n型半导体层;
步骤二、生长有源层,生长为单层的InGaN,或者交替生长为多个周期的InGaN层和GaN层,形成多量子阱层;
步骤三、在步骤二的基础上生长p型半导体层;
步骤四、沉积透明电极层、p电极层;
步骤五、在步骤四的基础上进行光刻和刻蚀,露出n型层缓冲层,为n电极层的沉积做准备;
步骤六、沉积Cu、Ti、Al、Ni或Au,采用其中单一金属或组合金属,并进行光刻和刻蚀,形成n电极层;
步骤七、沉积绝缘层,并进行光刻和刻蚀,露出p电极层窗口,为进一步沉积p电极层的外接金属散热层准备;同时在芯片边沿露出n电极pad;
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