[发明专利]紫外及可见并存的电抽运随机激射器件及制备方法无效

专利信息
申请号: 201110194585.1 申请日: 2011-07-12
公开(公告)号: CN102290707A 公开(公告)日: 2011-12-21
发明(设计)人: 马向阳;田野;杨德仁 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: H01S5/30 分类号: H01S5/30
代理公司: 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 代理人: 胡红娟
地址: 310027 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 紫外 可见 并存 抽运 随机 器件 制备 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种电抽运随机激射器件,具体为一种基于硅衬底上SiO2/ZnO/CdO/SiO2双势垒结构的紫外及可见并存的电抽运随机激射器件及制备方法。

背景技术

由于光电技术的发展,对紫外、可见区激光器件以及其他短波长光电器件的需求,使得ZnO的随机激光研究受到了越来越多的关注。作为ZnO体系中的重要一员,CdZnO薄膜通过调节Cd的含量,可以有效地将CdZnO薄膜的发光波长调节至可见光区。(J.A.Van Vechten and T.K.Bergstresser,Phys.Rev.B.1,3351(1970))。如果能够利用CdZnO薄膜实现在可见区的随机激射发光,无疑具有积极的现实意义。

2006年,H.D.Li等人首次报道了紫外、可见并存的ZnO薄膜的光抽运随机激射(H.D.Li,S.F.Yu,S.P.Lau,and E.S.Leong,Appl.Phys.Lett.89,021110(2006))。然而对于ZnO薄膜以及CdZnO薄膜在可见区的电抽运随机激射,目前还没有报道。其主要瓶颈在于一方面CdO在CdO-ZnO合金系统中的固溶度很低(在热平衡状态下大约只有2mol%),所以很难利用简单的设备制备出高Cd含量的CdZnO薄膜。另一方面Cd较低的熔沸点又使得制备基于高Cd浓度掺杂的CdZnO薄膜电致发光器件变得十分困难。

2007年马向阳等人利用金属-绝缘层-半导体(MIS)结构,成功实现了ZnO薄膜的电抽运随机激射(Xiangyang Ma,Peiliang Chen,DongshengLi,Yuanyuan Zhang,and Deren Yang,Appl.Phys.Lett.90,231106(2007))。最近又通过改变MgxZn1-XO薄膜的组分,利用此MIS结构实现了激光波长在紫外区的连续可调(Ye Tian,Xiangyang Ma,Peiliang Chen,Yuanyuan Zhang,Deren Yang,Opt.Express.18,10668(2010))。如何能在此研究基础上,实现CdZnO薄膜在可见区的电抽运随机激射发光,是亟需解决的一个难题。

发明内容

本发明提供了一种紫外及可见并存的电抽运随机激射器件,实现了CdZnO薄膜在可见区的电抽运随机激射发光。

一种紫外及可见并存的电抽运随机激射器件,包括衬底,衬底正面自下而上依次沉积有第一SiO2薄膜、CdO薄膜、ZnO薄膜、第二SiO2薄膜和Au电极,衬底背面沉积欧姆接触电极。

所述的衬底为电阻率为0.005~50欧姆·厘米的N型硅片。

CdO薄膜的厚度大于ZnO薄膜的厚度,有利于出光。

本发明还提供了上述电抽运随机激射器件的制备方法,包括:

(1)采用溶胶-凝胶法在衬底上沉积第一SiO2薄膜;

(2)采用溅射法在第一SiO2薄膜上沉积CdO薄膜;

(3)采用溅射法在CdO薄膜上沉积ZnO薄膜,加热处理;

(4)采用溶胶-凝胶法在ZnO薄膜沉积第二SiO2薄膜;

(5)采用溅射法在第二SiO2薄膜上沉积半透明Au电极,在衬底背面沉积欧姆接触电极。

优选的,步骤(2)和步骤(4)中沉积SiO2薄膜后进行加热处理,加热温度400~500℃,加热时间1~2小时,可以去除薄膜中的有机物,有助于成膜。

步骤(3)中沉积ZnO薄膜后进行加热处理,可以使Cd、Zn产生足够的互扩散,并且采用较高的热处理温度可以使薄膜发光变强,但温度不能过高,因为Cd在高温很容易挥发和分相,加热温度优选600~800℃,加热时间1~5小时。

本发明器件在衬底上形成了SiO2/ZnO/CdO/SiO2双势垒结构,由于镉、锌的互扩散,ZnO/CdO两薄膜层构成了Cd浓度渐变的CdxZn1-xO薄膜发光层,在一定的正向偏压下(衬底接负电压),CdZnO薄膜能够发出位于紫外、可见区的电抽运随机激射。而且器件的结构和实现方式简单,制备工艺及所用的设备与现行成熟的硅器件工艺兼容。

附图说明

图1为本发明器件的结构示意图;

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