[发明专利]射频功率自检测试装置及测试方法有效

专利信息
申请号: 201110182730.4 申请日: 2011-06-30
公开(公告)号: CN102571225A 公开(公告)日: 2012-07-11
发明(设计)人: 真莹;夏尔·鲍伯来 申请(专利权)人: 上海雷迪埃电子有限公司
主分类号: H04B17/00 分类号: H04B17/00;G01R21/00
代理公司: 上海光华专利事务所 31219 代理人: 李仪萍
地址: 200072 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 射频 功率 自检 测试 装置 方法
【权利要求书】:

1.射频功率自检测试装置,其特征在于:该装置(1)包括装设传输线的主腔体(20)、与所述主腔体(20)连接,用于耦合传输线上信号的可调耦合探针(10)以及与可调耦合探针(10)另一端连接的自检测信号处理单元(50);

所述可调耦合探针(10)包括中心针(13)、包裹所述中心针(13)的绝缘层(12)以及包裹绝缘层(12)的壳体(11);

所述自检测信号处理单元(50)包括PCB板(53)、安装PCB板(53)的电路盒(52)以及接收射频信号的连接器(51);所述电路盒(52)与主腔体(20)固定在一起;

所述PCB板(53)上设有依次连接的RF前级模块(531)、RF检测驱动级模块(532)、以及LED指示级模块(533)。

2.如权利要求1所述的射频功率自检测试装置,其特征在于:所述可调耦合探针(10)与自检测信号处理单元(50)采用半刚性射频电缆(30)连接。

3.如权利要求1或2所述的射频功率自检测试装置,其特征在于:所述主腔体(20)上设有收容可调耦合探针(10)的空腔,该空腔内壁设有内螺纹,所述壳体(11)上设有与该内螺纹配合的外螺纹,用于调节耦合探针(10)的深度。

4.如权利要求3所述的射频功率自检测试装置,其特征在于:所述空腔的横截面为阶梯形,所述壳体(11)上套设有垫圈(15)以及位于垫圈上的螺母(14),该垫圈位于阶梯形面上,和螺母(14)一起锁紧可调耦合探针(10)。

5.如权利要求1所述的射频功率自检测试装置,其特征在于:所述RF前级模块(531)包括输入隔直级电容(5315),RF功分器(5312)、与RF功分器(5312)输出端连接的由限幅二极管回路构成的RF动态自动保护级模块(5313)以及与RF动态自动保护级模块(5313)输出端连接的、由电容构成的隔直级模块(5314)。

6.如权利要求5所述的射频功率自检测试装置,其特征在于:所述RF功分器(5312)输入端连接有第二级衰减器(5311)。

7.如权利要求5所述的射频功率自检测试装置,其特征在于:所述RF功分器(5312)为微带功分器或小型化表面贴装模块。

8.如权利要求1所述的射频功率自检测试装置,其特征在于:RF检测驱动级模块(532)由检波二极管网络(5321)和并联电容组成的DC信号叠加级(5322)连接构成;所述检波二极管网络包括分别检测等分后的RF功率的检波二极管或检波集成电路块和电阻,用于将由RF功分器(5312)等分后的每一路RF信号分别转变为DC电压;各路的DC电压在与检波二极管网络级联的并联电容上进行叠加后输出来驱动LED指示级模块。

9.一种射频功率自检测试方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:

1)、提取适当的RF信号;

2)、在检波管之前,先衰减和动态限制变化的射频功率信号大小在一定范围内以保护后级检波管;

3)、将提取的RF信号等分为多路,使单路能够检波,同时用于后面的DC信号叠加;

4)、分别检测每一路RF信号,将其转化为DC信号;

5)、采用无源电路连接方式将每一路的DC电压叠加,提升到足以能够驱动LED。

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