[发明专利]轴承外圈外径公称尺寸偏差的测量方法有效

专利信息
申请号: 201110175999.X 申请日: 2011-06-28
公开(公告)号: CN102252580A 公开(公告)日: 2011-11-23
发明(设计)人: 苏兆力;李媛媛;张俊江;赵再胜;戴天任 申请(专利权)人: 洛阳轴研科技股份有限公司
主分类号: G01B5/08 分类号: G01B5/08
代理公司: 洛阳市凯旋专利事务所 41112 代理人: 符继超
地址: 471039 河*** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 轴承 外圈 外径 公称 尺寸 偏差 测量方法
【说明书】:

技术领域

发明属于轴承测量技术领域涉,尤其涉及到一种轴承外圈外径公称尺寸偏差的测量方法。

背景技术

对于较大规格尺寸的轴承,其外圈外径公称尺寸偏差的测量通常采用管尺或是外径千分尺,轴承外圈外径公称尺寸偏差的测量精度和准确性直接关系到成品轴承的各项性能指标,也关系到与轴承外圈相配零件的配合公差。

管尺的测量精度较低,测量时需要两个人配合完成,劳动量较大,工作效率较低。外径千分尺的测量属于间接测量,测量误差较大。

轴承外圈外径的公称尺寸用2r来表示,其中r是轴承外圈的半径。

发明内容

为解决上述问题,本发明提供了一种轴承外圈外径公称尺寸偏差的测量方法,该测量方法能够提高轴承外圈外径公称尺寸的测量准确性和精确度,而且能够提高测量的工作效率,测量方法所使用的测量装置具有结构简单,易调整之特点。

为实现上述发明目的,本发明采用如下技术方案:

一种轴承外圈外径公称尺寸偏差的测量方法,该测量方法中的被测轴承外圈外径的公称尺寸设定为2r,r是被测轴承外圈的半径;所述测量方法包含测量装置、基准校对和测量过程三部分内容,该三部分内容分述如下:

①测量装置根据“三点确定一段圆弧”原理设计而成,测量装置包含有第一定位球、定位套、压簧、盖板、测量仪表、测杆、平衡架、第二定位球、限位套和径向移动定位球,平衡架的对称中心设有通孔,平衡架的两端距所述通孔中心具有等距C/2的内螺纹孔,平衡架两端的两个所述内螺纹孔之间距为C,所述内螺纹孔通过阶梯状螺栓或联接第一定位球或联接第二定位球,第一定位球的直径等于第二定位球的直径,当第一定位球和第二定位球通过所述阶梯状螺栓和调整套被固定在平衡架两端的所述内螺纹孔时,第一定位球和第二定位球的两个最底端点之间的连线要与平衡架保持相互平行,而套在每个所述阶梯状螺栓中间的调整套结构尺寸相等从而能够保证所述相互平行;在平衡架所述通孔内穿接有测杆,测杆的下端通过限位套联接有能随测杆上下移动的径向移动定位球,测杆的上端在配置压簧后通过定位套和盖板被固定在平衡架上,测量仪表被旋接在盖板的中心孔内,测量仪表的测头与测杆上端接触,径向移动定位球的直径等于第一定位球的直径或是第二定位球的直径,径向移动定位球最底端点与第一定位球和第二定位球的两个最底端点形成了同在一段圆弧的三点,且径向移动定位球最底端点与第一定位球和第二定位球的两个最底端点之间的连线形成了高度差h。

②在使用本发明测量装置之前,要根据被测轴承外圈的外径2r来对测量装置进行基准校对,基准校对以h=r-1/2(4r2-C2)1/2为准,第一标准块和第三标准块的高度值绝对相等,则第二标准块高度=第一标准块高度+h;将第一标准块、第二标准块、第三标准块按序摆放在工作平台上,其中第一标准块和第三标准块的中心间距要满足所述C,第二标准块置于第一标准块和第三标准块的中间,将装配好的测量装置中的第一定位球放在第一标准块或是第三标准块上、第二定位球放在第三标准块或是第一标准块上、径向移动定位球放在第二标准块上,此时测杆随径向移动定位球的下垂而向下移动,在测量仪表测头与测杆上端接触后记录测量仪表的基准读出值,该基准读出值标记为原始值。

③将基准校对后的测量装置置于被测轴承外圈的外径端面,两个相对固定的第一定位球和第二定位球与被测轴承外圈接触的两点之间距等于是外径为2r的被测轴承外圈的弦长,径向移动定位球与被测轴承外圈接触点的水平线与所述两点之间距的连线所形成的高度差h等于是外径为2r的被测轴承外圈的弦高,此时记录测量仪表的测量读出值,该测量读出值标记为测量值,测量值与原始值的绝对值之差即为轴承外圈外径公称尺寸的偏差,至此完成测量过程。

所述测量仪表或是百分表或是千分表,若为百分表时其测量方法的测量精度是0.01mm,若为千分表时其测量方法的测量精度是0.001mm。

由于采用如上所述技术方案,本发明具有如下积极效果:

1、本发明的测量装置具有结构简单、轻便,操作人员可以方便、快捷的进行测量。

2、测杆由于压簧的限位作用可以和测量仪表的测头保持良好的接触,减小测量装置的测量误差。

3、第一定位球和第二定位球以及径向移动定位球除采用钢制品外还可以采用氮化硅材料制成,以降低测量装置的整体重量,氮化硅优越的耐磨性能可大大提高测量装置的使用寿命。

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