[发明专利]轴承外圈外径公称尺寸偏差的测量方法有效
| 申请号: | 201110175999.X | 申请日: | 2011-06-28 |
| 公开(公告)号: | CN102252580A | 公开(公告)日: | 2011-11-23 |
| 发明(设计)人: | 苏兆力;李媛媛;张俊江;赵再胜;戴天任 | 申请(专利权)人: | 洛阳轴研科技股份有限公司 |
| 主分类号: | G01B5/08 | 分类号: | G01B5/08 |
| 代理公司: | 洛阳市凯旋专利事务所 41112 | 代理人: | 符继超 |
| 地址: | 471039 河*** | 国省代码: | 河南;41 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 轴承 外圈 外径 公称 尺寸 偏差 测量方法 | ||
1.一种轴承外圈外径公称尺寸偏差的测量方法,该测量方法中的被测轴承外圈外径的公称尺寸设定为2r,r是被测轴承外圈的半径;所述测量方法包含测量装置、基准校对和测量过程三部分内容,该三部分内容分述如下:
①测量装置根据“三点确定一段圆弧”原理设计而成,测量装置包含有第一定位球(1)、定位套(2)、压簧(3)、盖板(4)、测量仪表(5)、测杆(6)、平衡架(7)、第二定位球(8)、限位套(9)和径向移动定位球(10),平衡架(7)的对称中心设有通孔,平衡架(7)的两端距所述通孔中心具有等距C/2的内螺纹孔,平衡架(7)两端的两个所述内螺纹孔之间距为C,所述内螺纹孔通过阶梯状螺栓或联接第一定位球(1)或联接第二定位球(8),第一定位球(1)的直径等于第二定位球(8)的直径,当第一定位球(1)和第二定位球(8)通过所述阶梯状螺栓和调整套被固定在平衡架两端的所述内螺纹孔时,第一定位球(1)和第二定位球(8)的两个最底端点之间的连线要与平衡架保持相互平行,而套在每个所述阶梯状螺栓中间的调整套结构尺寸相等从而能够保证所述相互平行;在平衡架(7)所述通孔内穿接有测杆(6),测杆(6)的下端通过限位套(9)联接有能随测杆上下移动的径向移动定位球(10),测杆(6)的上端在配置压簧(3)后通过定位套(2)和盖板(4)被固定在平衡架上,测量仪表(5)被旋接在盖板(4)的中心孔内,测量仪表(5)的测头与测杆(6)上端接触,径向移动定位球(10)的直径等于第一定位球(1)的直径或是第二定位球(8)的直径,径向移动定位球(10)最底端点与第一定位球(1)和第二定位球(8)的两个最底端点形成了同在一段圆弧的三点,且径向移动定位球(10)最底端点与第一定位球(1)和第二定位球(8)的两个最底端点之间的连线形成了高度差h;
②在使用本发明测量装置之前,要根据被测轴承外圈的外径2r来对测量装置进行基准校对,基准校对以h=r-1/2(4r2-C2)1/2为准,第一标准块(11)和第三标准块(13)的高度值绝对相等,则第二标准块(12)高度=第一标准块高度+h;将第一标准块(11)、第二标准块(12)、第三标准块(13)按序摆放在工作平台上,其中第一标准块(11)和第三标准块(13)的中心间距要满足所述C,第二标准块(12)置于第一标准块(11)和第三标准块(13)的中间,将装配好的测量装置中的第一定位球(1)放在第一标准块(11)或是第三标准块(13)上、第二定位球(8)放在第三标准块(13)或是第一标准块(11)上、径向移动定位球(10)放在第二标准块(12)上,此时测杆(6)随径向移动定位球(10)的下垂而向下移动,在测量仪表(5)测头与测杆(6)上端接触后记录测量仪表的基准读出值,该基准读出值标记为原始值;
③将基准校对后的测量装置置于被测轴承外圈的外径端面,两个相对固定的第一定位球(1)和第二定位球(8)与被测轴承外圈接触的两点之间距等于是外径为2r的被测轴承外圈的弦长,径向移动定位球(10)与被测轴承外圈接触点的水平线与所述两点之间距的连线所形成的高度差h等于是外径为2r的被测轴承外圈的弦高,此时记录测量仪表(5)的测量读出值,该测量读出值标记为测量值,测量值与原始值的绝对值之差即为轴承外圈外径公称尺寸的偏差,至此完成测量过程。
2.如权利要求1所述轴承外圈外径公称尺寸偏差的测量方法,其特征是:所述测量仪表(5)或是百分表或是千分表,若为百分表时其测量方法的测量精度是0.01mm,若为千分表时其测量方法的测量精度是0.001mm。
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