[发明专利]多点触碰侦测方法及其装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种触碰侦测方法及其装置，特别是涉及一种多点触碰侦测方法及其装置。

背景技术

随着大面积多点触控功能产品的出现，电容式触控技术扮演着举足轻重的角色。

传统电容式触控面板主要以自感式或互感式电容量测方法来侦测多点触碰，其中自感式多点触碰侦测如图1所示，主要是一控制器(图未示)借由对触控板10上的X方向电极列X1-X4充放电，及对Y方向电极列Y1-Y7充放电，来量测X方向电极列X1-X4及Y方向电极列Y1-Y7上的电容变化，以侦测触控板10被碰触的位置。假设两根手指同时触碰触控板10时，由于手指的位置是分别位于电极列X2、X4及电极列Y3、Y5上方，因此控制器(图未示)会感测到电极列X2、X4及Y3、Y5上的电容变化，而判定触碰位置发生在电极列X2、X4及Y3、Y5的交错点上，但由于电极列X2、X4及Y3、Y5的交错点有四个(X2、Y3)、(X2、Y5)、(X4、Y3)及(X4、Y5)，控制器无法准确判断实际碰触的两点是(X2，Y3)、(X4，Y5)这两点，还是(X2，Y5)、(X4，Y3)这两点(业界称之为鬼点(Ghost Points))，容易有误判鬼点(Ghost Points)为实际触碰点的情况发生，而必需再通过后端复杂的数学运算来判断实际触碰位置。

因此，为解决上述问题，另一种互感式多点触碰侦测方式如图2所示，控制器借由依序对每一X方向电极列X1-X4发送电信号，并依序在该等Y方向电极列Y1-Y7进行量测，借由量测X方向电极列的电极与Y方向电极列的电极之间在无碰触与有碰触时的电容变化，可正确侦测多点碰触的位置。然而此种侦测方式的扫描次数多，以图2为例，需要扫描28次(4次(X方向)*7次(Y方向))才能侦测完全部的电极，但图1的自感式侦测只需扫描11次(4次(X方向充放电)+7次(Y方向充放电))；此外此种侦测方式的充放电次数多，增加功率消耗，且X方向电极与Y方向电极之间的电容变化量小，容易因外来噪声干扰而发生误判。

由此可见，上述现有的电容式触控面板在方法、产品结构及使用上，显然仍存在有不便与缺陷，而亟待加以进一步改进。因此如何能创设一种新的多点触碰侦测方法及其装置，实属当前重要研发课题之一，亦成为当前业界极需改进的目标。

发明内容

本发明的目的在于，克服现有的电容式触控面板存在的缺陷，而提供一种新的多点触碰侦测方法及其装置，所要解决的技术问题是使其在于提供一种结合自感式与互感式电容量测优点，以减少扫描次数及功率消耗，并正确判断触碰位置的多点触碰侦测方法及其装置，非常适于实用。

本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本发明提出的一种多点触碰侦测方法，应用于一触控板，该触控板包含一基板，多个沿一第一方向布设于该基板的表面的第一电极列，及多个沿与该第一方向概呈垂直的第二方向布设于该基板的表面，并与该等第一电极列相错开的第二电极列，且各该第一电极列包含多个相串联的第一电极，各该第二电极列包含多个相串联的第二电极，其中：该多点触碰侦测方法包括：(A)提供一第一电信号给各该第一电极列，并侦测该等第一电极列及该等第二电极列的电容变化，再提供一第二电信号给各该第二电极列，并侦测该等第一电极列及该等第二电极列的电容变化，以根据该等第一电极列和该等第二电极列的电容变化，决定候选的第一电极列及第二电极列；及(B)提供一第三电信号给各该候选的第一电极列，并至少侦测各该候选的第一电极列与各该候选的第二电极列之间的电容变化，以根据至少各该候选的第一电极列与各该候选的第二电极列之间的电容变化，判定该触控板上多点触碰的位置。

本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。

前述的多点触碰侦测方法，其中所述的在步骤(A)中，当提供该第一电信号对各该第一电极列充放电时，该等第二电极列被接地，以侦测该等第一电极列的电容变化，而当提供该第二电信号对各该第二电极列充放电时，该等第一电极列被接地，以侦测该等第二电极列的电容变化。

前述的多点触碰侦测方法，其中所述的在步骤(B)中，是依序提供该第三电信号给各该候选的第一电极列，并依序对各该候选的第二电极列量测一第四电信号，以侦测各该候选的第一电极列与各该候选的第二电极列之间的电容变化。

前述的多点触碰侦测方法，其中所述的在步骤(B)中，是依序提供该第三电信号给各该候选的第一电极列，并同时对该等候选的第二电极列量测一第四电信号，以侦测各该候选的第一电极列与各该候选的第二电极列之间的电容变化。