[发明专利]多点触碰侦测方法及其装置

权利要求书

1.一种多点触碰侦测方法，应用于一触控板，该触控板包含一基板，多个沿一第一方向布设于该基板的表面的第一电极列，及多个沿与该第一方向概呈垂直的第二方向布设于该基板的表面，并与该等第一电极列相错开的第二电极列，且各该第一电极列包含多个相串联的第一电极，各该第二电极列包含多个相串联的第二电极，其特征在于：

该多点触碰侦测方法包括：

(A)提供一第一电信号给各该第一电极列，并侦测该等第一电极列及该等第二电极列的电容变化，再提供一第二电信号给各该第二电极列，并侦测该等第一电极列及该等第二电极列的电容变化，以根据该等第一电极列和该等第二电极列的电容变化，决定候选的第一电极列及第二电极列；及

(B)提供一第三电信号给各该候选的第一电极列，并至少侦测各该候选的第一电极列与各该候选的第二电极列之间的电容变化，以根据至少各该候选的第一电极列与各该候选的第二电极列之间的电容变化，判定该触控板上多点触碰的位置。

2.如权利要求1所述的多点触碰侦测方法，其特征在于：在步骤(A)中，当提供该第一电信号对各该第一电极列充放电时，该等第二电极列被接地，以侦测该等第一电极列的电容变化，而当提供该第二电信号对各该第二电极列充放电时，该等第一电极列被接地，以侦测该等第二电极列的电容变化。

3.如权利要求1所述的多点触碰侦测方法，其特征在于：在步骤(B)中，是依序提供该第三电信号给各该候选的第一电极列，并依序对各该候选的第二电极列量测一第四电信号，以侦测各该候选的第一电极列与各该候选的第二电极列之间的电容变化。

4.如权利要求1所述的多点触碰侦测方法，其特征在于：在步骤(B)中，是依序提供该第三电信号给各该候选的第一电极列，并同时对该等候选的第二电极列量测一第四电信号，以侦测各该候选的第一电极列与各该候选的第二电极列之间的电容变化。

5.如权利要求1所述的多点触碰侦测方法，其特征在于：在步骤(B)中，是依序提供该第三电信号给各该候选的第一电极列，并同时对该等候选的第二电极列及其它非候选的第二电极列量测一第四电信号，以侦测该等候选的第一电极列及该等非候选的第二电极列与各该候选的第二电极列之间的电容变化。

6.如权利要求1所述的多点触碰侦测方法，其特征在于：在步骤(B)中，是同时提供不同相位及不同频率的该第三电信号给各该候选的第一电极列，并依序对各该候选的第二电极列量测一第四电信号，以侦测各该候选的第一电极列与各该候选的第二电极列之间的电容变化。

7.如权利要求1所述的多点触碰侦测方法，其特征在于：在步骤(B)中，是同时提供不同相位或不同频率的该第三电信号给各该候选的第一电极列，并依序对各该候选的第二电极列量测一第四电信号，以侦测各该候选的第一电极列与各该候选的第二电极列之间的电容变化。

8.如权利要求1所述的多点触碰侦测方法，其特征在于：在步骤(B)中，是同时提供不同相位及不同频率的该第三电信号给各该候选的第一电极列，并同时对该等候选的第二电极列量测一第四电信号，以侦测各该候选的第一电极列与各该候选的第二电极列之间的电容变化。

9.如权利要求1所述的多点触碰侦测方法，其特征在于：在步骤(B)中，是同时提供不同相位或不同频率的该第三电信号给各该候选的第一电极列，并同时对该等候选的第二电极列量测一第四电信号，以侦测各该候选的第一电极列与各该候选的第二电极列之间的电容变化。

10.如权利要求1所述的多点触碰侦测方法，其特征在于：在步骤(B)中，是同时提供不同相位及不同频率的该第三电信号给各该候选的第一电极列，并依序对该等候选的第二电极列及其它非候选的第二电极列量测一第四电信号，以侦测该等候选的第一电极列及该等非候选的第二电极列与各该候选的第二电极列之间的电容变化。

11.如权利要求1所述的多点触碰侦测方法，其特征在于：在步骤(B)中，是同时提供不同相位或不同频率的该第三电信号给各该候选的第一电极列，并依序对该等候选的第二电极列及其它非候选的第二电极列量测一第四电信号，以侦测该等候选的第一电极列及该等非候选的第二电极列与各该候选的第二电极列之间的电容变化。