[发明专利]非易失存储器的测试校验方法和系统

权利要求书

1.一种非易失存储器的测试校验方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤101，对所有存储单元同时进行校验；

步骤102，将所有的校验结果存入寄存模块内；

步骤103，从寄存模块内逐一取出校验结果，对存储单元进行校验结果是否全部通过的判断，若通过，则结束测试校验操作，反之，则对未通过校验的存储单元进行相应的处理，并在对所有未通过校验的存储单元都进行相应的处理后，返回步骤101。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所有存储单元同时进行校验包括：

对同一页内的所有存储单元同时进行校验。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述从寄存模块内逐一取出校验结果，对存储单元进行校验结果是否通过的判断，并对未通过校验的存储单元进行相应的处理包括：

取出一个字节里的所有校验结果，判断该字节里的所有存储单元是否通过校验，若是，则取出下一个字节里的所有校验结果，反之，则对该字节里未通过校验的存储单元进行相应的处理后再取出下一个字节里所有的校验结果。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述从寄存模块内逐一取出校验结果，对存储单元进行校验结果是否通过的判断，并对未通过校验的存储单元进行相应的处理包括：

若包含有未通过校验的存储单元，则触发对该未通过校验的存储单元进行处理；

当对所有未通过校验的存储单元进行相应的处理后，触发对所有存储单元的再次校验。

5.如权利要求1至4任一项所述的方法，其特征在于，所述对所有存储单元同时进行校验包括：

对编程操作、擦除操作或过擦除处理操作后的校验。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述对未通过校验的存储单元进行相应的处理包括：

对未通过编程操作校验的存储单元的编程处理；或

对未通过擦除操作校验的存储单元的擦除处理；或

对未通过过擦除处理操作校验的存储单元的编程处理。

7.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

将再次校验的校验结果存储寄存模块，并覆盖原来的校验结果。

8.一种非易失存储器的测试校验系统，其特征在于，包括校验模块、寄存模块、状态机及处理模块；其中：校验模块与寄存模块及状态机连接，用于对存储单元进行校验；

寄存模块，与校验模块、状态机及处理模块连接，用于存储所有存储单元的校验结果；

状态机，控制处理模块从寄存模块内逐一取出校验结果，对处理模块及校验模块发出相应的信号；

处理模块，对存储单元进行校验结果是否全部通过的判断，若通过，则结束测试校验操作，反之，则处理模块结合处理信号触发对未通过校验的存储单元的处理，在处理模块对所有未通过校验的存储单元都进行相应的处理后，状态机生成触发校验模块再次进行校验的信号。

9.如权利要求8所述的系统，其特征在于，所述状态机包括：

逻辑控制模块，用于控制按照存储地址一次取出一个字节的校验结果，并触发处理模块对该字节未通过校验的存储单元进行相应的处理后再取出下一地址的一个字节的校验结果。

10.如权利要求8所述的系统，其特征在于，所述校验模块为：

编程操作校验模块；或

擦除操作校验模块；或

过擦除处理操作校验模块。

11.如权利要求10所述的系统，其特征在于，所述处理模块为：

编程模块，用于对未通过编程操作校验或过擦除处理操作的存储单元进行编程处理；或

擦除模块，用于对未通过擦除操作校验的存储单元的擦除处理。

12.如权利要求8所述的系统，其特征在于，所述寄存模块为寄存器。