[发明专利]过孔的刻蚀方法、阵列基板、液晶面板及显示设备有效
| 申请号: | 201110118337.9 | 申请日: | 2011-05-09 |
| 公开(公告)号: | CN102651316A | 公开(公告)日: | 2012-08-29 |
| 发明(设计)人: | 周伟峰;薛建设 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/311 | 分类号: | H01L21/311;H01L21/77;G02F1/1362;G03F7/00 |
| 代理公司: | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
| 地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 刻蚀 方法 阵列 液晶面板 显示 设备 | ||
技术领域
本发明涉及液晶显示技术领域,尤其涉及过孔的刻蚀方法、阵列基板、液晶面板及显示设备。
背景技术
随着平板显示产品生产的不断扩大,各个生产厂商之间的竞争也日趋激烈。各厂家在不断提高产品性能的同时,也在不断努力降低产品的生产成本,从而提高市场的竞争力。
TFT-LCD(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display,薄膜晶体管液晶显示器)作为家喻户晓的平板显示产品,降低生产成本也是其技术革新的一个重要方面。
在TFT-LCD阵列基板上,像素电极通过像素电极过孔与栅电极电连接。在制备像素电极过孔时,需要对由钝化层和栅极绝缘层构成的复合层进行刻蚀,现有技术通常采用干法刻蚀工艺制备像素电极过孔。
干法刻蚀工艺需要先在刻蚀设备的腔体内抽真空,再通入各种反应气体进行刻蚀,刻蚀完成后还需再次抽真空,然后通入氮气使气压平衡。由此可知,采用干法刻蚀工艺制备像素电极过孔时,不能在腔体内连续进行刻蚀工序,因此产能较低。另外,干法刻蚀的设备也比较昂贵,这些都是导致现有技术制备像素电极过孔成本较高的因素。
随着有机绝缘层在显示领域的广泛使用,阵列基板上也普遍采用有机绝缘层作为钝化层。在制备像素电极过孔时,需要对由有机绝缘层和栅极绝缘层构成的复合层进行干法刻蚀,但由于有机绝缘层和栅极绝缘层的刻蚀速率不匹配,在有机绝缘层和栅极绝缘层的接面处会出现如图1中黑色圆圈部分所示的悬空结构,导致必须在栅极绝缘层过孔刻蚀完成后增加灰化扩孔工序,以扩大有机绝缘层过孔的形貌,避免后续在像素电极过孔中形成ITO(氧化铟锡)时出现搭接断路的情况。
在利用干法刻蚀工艺制备上述像素电极过孔的过程中,发明人发现现有技术中至少存在如下问题:
1、干法刻蚀设备昂贵,且工艺复杂,导致了像素电极过孔制造成本的增加。
2、对不同绝缘层干法刻蚀时由于刻蚀速率不匹配,导致需要增加额外的工艺,从而增加了像素电极过孔的制造成本。
3、干法刻蚀获得的像素电极过孔形貌不佳,容易出现像素电极搭接断路的情况,导致阵列基板的良率降低。
发明内容
本发明的实施例提供一种过孔的刻蚀方法、阵列基板、液晶面板及显示设备,可降低像素电极过孔的制造成本,并能保证较好的过孔形貌,从而能防止薄膜晶体管液晶显示器的良率降低。
为达到上述目的,本发明的实施例采用如下技术方案:
一种过孔的刻蚀方法,包括:采用过孔掩膜对形成在栅极绝缘层上的有机绝缘层进行曝光、显影工艺,以在所述有机绝缘层中形成第一过孔,暴露出部分所述栅极绝缘层;所述栅极绝缘层覆盖在形成有栅电极的衬底上;用热磷酸对所述暴露出的栅极绝缘层进行湿法刻蚀,以在所述栅极绝缘层中形成第二过孔,并暴露出所述栅电极,所述热磷酸的温度为140℃~190℃;用温水清洗依次形成有所述栅电极、所述栅极绝缘层、所述有机绝缘层的衬底;剥离所述过孔掩膜。
一种阵列基板,其像素电极过孔的侧壁覆盖有有机绝缘层。
一种液晶面板,包括上述的阵列基板。
一种显示设备,包括上述的阵列基板。
本发明实施例提供的过孔的刻蚀方法、阵列基板、液晶面板及显示设备中,将有机绝缘层的曝光、显影工艺与热磷酸的湿法刻蚀工艺结合起来,热磷酸的高温使得悬空的有机绝缘层软化,软化的有机绝缘层在重力的作用下覆盖在栅极绝缘层的过孔上,可实现像素电极过孔形貌的自动修补,相比于现有技术,无需增加后续的灰化扩孔工序,工艺简单,且湿法刻蚀设备简单、便宜,从而降低了像素电极过孔的制造成本,进而降低了阵列基板、液晶面板以及显示设备的制造成本,并提高了阵列基板、液晶面板以及显示设备的良率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为现有技术中用干法刻蚀工艺制造的像素电极过孔的剖面图;
图2A~2E为本发明实施例过孔的刻蚀方法的流程剖面图。
具体实施方式
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





