[发明专利]过孔的刻蚀方法、阵列基板、液晶面板及显示设备有效

专利信息
申请号: 201110118337.9 申请日: 2011-05-09
公开(公告)号: CN102651316A 公开(公告)日: 2012-08-29
发明(设计)人: 周伟峰;薛建设 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司
主分类号: H01L21/311 分类号: H01L21/311;H01L21/77;G02F1/1362;G03F7/00
代理公司: 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 代理人: 申健
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 刻蚀 方法 阵列 液晶面板 显示 设备
【说明书】:

技术领域

发明涉及液晶显示技术领域,尤其涉及过孔的刻蚀方法、阵列基板、液晶面板及显示设备。

背景技术

随着平板显示产品生产的不断扩大,各个生产厂商之间的竞争也日趋激烈。各厂家在不断提高产品性能的同时,也在不断努力降低产品的生产成本,从而提高市场的竞争力。

TFT-LCD(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display,薄膜晶体管液晶显示器)作为家喻户晓的平板显示产品,降低生产成本也是其技术革新的一个重要方面。

在TFT-LCD阵列基板上,像素电极通过像素电极过孔与栅电极电连接。在制备像素电极过孔时,需要对由钝化层和栅极绝缘层构成的复合层进行刻蚀,现有技术通常采用干法刻蚀工艺制备像素电极过孔。

干法刻蚀工艺需要先在刻蚀设备的腔体内抽真空,再通入各种反应气体进行刻蚀,刻蚀完成后还需再次抽真空,然后通入氮气使气压平衡。由此可知,采用干法刻蚀工艺制备像素电极过孔时,不能在腔体内连续进行刻蚀工序,因此产能较低。另外,干法刻蚀的设备也比较昂贵,这些都是导致现有技术制备像素电极过孔成本较高的因素。

随着有机绝缘层在显示领域的广泛使用,阵列基板上也普遍采用有机绝缘层作为钝化层。在制备像素电极过孔时,需要对由有机绝缘层和栅极绝缘层构成的复合层进行干法刻蚀,但由于有机绝缘层和栅极绝缘层的刻蚀速率不匹配,在有机绝缘层和栅极绝缘层的接面处会出现如图1中黑色圆圈部分所示的悬空结构,导致必须在栅极绝缘层过孔刻蚀完成后增加灰化扩孔工序,以扩大有机绝缘层过孔的形貌,避免后续在像素电极过孔中形成ITO(氧化铟锡)时出现搭接断路的情况。

在利用干法刻蚀工艺制备上述像素电极过孔的过程中,发明人发现现有技术中至少存在如下问题:

1、干法刻蚀设备昂贵,且工艺复杂,导致了像素电极过孔制造成本的增加。

2、对不同绝缘层干法刻蚀时由于刻蚀速率不匹配,导致需要增加额外的工艺,从而增加了像素电极过孔的制造成本。

3、干法刻蚀获得的像素电极过孔形貌不佳,容易出现像素电极搭接断路的情况,导致阵列基板的良率降低。

发明内容

本发明的实施例提供一种过孔的刻蚀方法、阵列基板、液晶面板及显示设备,可降低像素电极过孔的制造成本,并能保证较好的过孔形貌,从而能防止薄膜晶体管液晶显示器的良率降低。

为达到上述目的,本发明的实施例采用如下技术方案:

一种过孔的刻蚀方法,包括:采用过孔掩膜对形成在栅极绝缘层上的有机绝缘层进行曝光、显影工艺,以在所述有机绝缘层中形成第一过孔,暴露出部分所述栅极绝缘层;所述栅极绝缘层覆盖在形成有栅电极的衬底上;用热磷酸对所述暴露出的栅极绝缘层进行湿法刻蚀,以在所述栅极绝缘层中形成第二过孔,并暴露出所述栅电极,所述热磷酸的温度为140℃~190℃;用温水清洗依次形成有所述栅电极、所述栅极绝缘层、所述有机绝缘层的衬底;剥离所述过孔掩膜。

一种阵列基板,其像素电极过孔的侧壁覆盖有有机绝缘层。

一种液晶面板,包括上述的阵列基板。

一种显示设备,包括上述的阵列基板。

本发明实施例提供的过孔的刻蚀方法、阵列基板、液晶面板及显示设备中,将有机绝缘层的曝光、显影工艺与热磷酸的湿法刻蚀工艺结合起来,热磷酸的高温使得悬空的有机绝缘层软化,软化的有机绝缘层在重力的作用下覆盖在栅极绝缘层的过孔上,可实现像素电极过孔形貌的自动修补,相比于现有技术,无需增加后续的灰化扩孔工序,工艺简单,且湿法刻蚀设备简单、便宜,从而降低了像素电极过孔的制造成本,进而降低了阵列基板、液晶面板以及显示设备的制造成本,并提高了阵列基板、液晶面板以及显示设备的良率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为现有技术中用干法刻蚀工艺制造的像素电极过孔的剖面图;

图2A~2E为本发明实施例过孔的刻蚀方法的流程剖面图。

具体实施方式

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