[发明专利]一种制备单层石墨烯的方法有效

专利信息
申请号: 201110096201.2 申请日: 2011-04-18
公开(公告)号: CN102134067A 公开(公告)日: 2011-07-27
发明(设计)人: 刘忠范;戴博雅;付磊 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: C01B31/04 分类号: C01B31/04
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 关畅
地址: 100871 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 制备 单层 石墨 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于二维薄膜材料制备技术领域,涉及一种制备单层石墨烯的方法。

背景技术

石墨烯是由碳原子按照sp2成键形成的二维单原子层材料。石墨烯具有很多优良的性质,比如它有很高的电子迁移率、室温下表现出长程弹道输运性质,带隙可以调控,被认为是构筑新一代电子器件材料的有力竞争者。石墨烯良好的电导性能和透光性能,使它在透明电导电极方面有非常好的应用前景,有望广泛用于触摸屏、液晶显示、有机光伏电池、有机发光二极管等领域。石墨烯独特的二维结构使它在传感器领域具有光明的应用前景,巨大的表面积使它对周围的环境非常敏感,即使是一个气体分子吸附或释放都可以检测到。正是因为具有众多优异的性质,石墨烯成为凝聚态物理和材料科学领域中备受瞩目的新星,引起了学术界、工业界的广泛关注。石墨烯的发现者英国物理学家安德烈·海姆和康斯坦丁·诺沃肖洛夫在石墨烯仅被发现6年后就获得了2010年诺贝尔物理学奖。

目前关于石墨烯制备的方法有很多,如机械法剥离高定向热解石墨(HOPG),液相剥离石墨,化学还原石墨氧化物,单晶金属外延生长,SiC外延生长,化学气相沉积(CVD)在金属镍或铜上生长,真空下由金属基底偏析生长等。其中,机械法剥离HOPG获得石墨烯的方法过程不可控,效率低,而且获得的石墨烯通常面积较小,形状、结构也不可重复。导致由机械剥离法制备得到的石墨烯是世界最贵的材料之一,人头发截面尺寸的微小样品需要花费1000美元。目前,石墨烯制备效率较高的SiC外延生长和CVD法备受瞩目。但是前者实验条件苛刻,基底价格昂贵,制备的石墨烯难于分离,其厚度由加热温度决定,制备大面积具有单一厚度的石墨烯比较困难;后者目前已经初步实现高效、低价地制备大面积的石墨烯,但是采用这种方法获得的石墨烯往往厚度不均匀、层数难控制,实验条件控制精度要求高。

不同层数的石墨烯具有不同的性质,比如单层石墨烯是导电性优良的半金属,双层石墨烯具有可被电场调控的带隙,而三层石墨烯的导带与价带的重叠程度可通过电场调节而改变,多层石墨烯(>10层)则拥有和石墨相似的能带结构。如果制备的石墨烯层数分布不均匀,那么所得的石墨烯的性质会混杂不同层数石墨烯的不同特性,为下一步的应用带来不便。因此,如何有效的控制石墨烯的层数是石墨烯制备中的关键问题。

在已有的文献报道中,为了有效控制石墨烯的层数,人们尝试了不同的金属基底进行生长,在铜箔上的低压化学气相沉积法可以制备均一度达95%的单层石墨烯,然而制备条件要求苛刻,多层石墨烯的生成无法完全避免。单晶的金属基底也被用来控制石墨烯的均匀性,镍钴等金属的单晶可以生长出均匀分布的石墨烯,然而单晶金属基底价格昂贵,在石墨烯的转移过程中经历刻蚀后难以重复利用,并不是适合大规模制备与应用以及工业生产的方法。

发明内容

本发明的目的是提供一种制备单层石墨烯的方法。

本发明提供的制备单层石墨烯的方法,包括如下步骤:

1)制备合金基底;

2)在氢气和惰性气氛中,通入碳源利用化学气相沉积方法在所述步骤1)所得合金基底表面催化生长石墨烯,完成所述单层石墨烯的制备。

上述方法的所述步骤1)所述制备合金基底的方法为下述方法a或方法b,其中,所述方法a包括如下步骤:在金属基底上制备至少一层金属薄膜,得到所述合金基底;

所述方法b包括如下步骤:在非金属基底上制备至少两层金属薄膜,得到所述合金基底。

所述方法a中,所述金属薄膜的层数为一层或两层,优选一层;构成所述金属基底和金属薄膜的材料均选自镍、钴、铁、铝、金、银、铜、锌、钼、钨、钛、钒、铬、钌、铑、铂、钯和铱中的至少一种,优选镍、钴、铁、钨和钼中的至少一种;所述金属基底的厚度为1μm~1000μm,优选25μm~200μm;所述金属薄膜的厚度为5nm~1μm,优选200nm~500nm,更优选200nm;

所述方法b中,构成所述非金属基底的材料为硅片、氧化硅、玻璃、石英、碳化硅或氧化铝;所述金属薄膜的层数为两层或三层,优选两层;构成所述金属薄膜的材料选自镍、钴、铁、铝、金、银、铜、锌、钼、钨、钛、钒、铬、钌、铑、铂、钯和铱中的至少一种,优选镍、钴、铁、钨和钼中的至少一种;所述非金属基底的厚度为1μm~1000μm,优选25μm~500μm;所述每层金属薄膜的厚度为5nm~1μm,优选200nm~500nm,更优选200nm。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京大学,未经北京大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110096201.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top