[发明专利]发光二极管驱动装置有效
申请号: | 201110075775.1 | 申请日: | 2011-03-23 |
公开(公告)号: | CN102638918A | 公开(公告)日: | 2012-08-15 |
发明(设计)人: | 曾扬玳 | 申请(专利权)人: | 力林科技股份有限公司 |
主分类号: | H05B37/02 | 分类号: | H05B37/02;G01R19/00 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 刘芳 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 发光二极管 驱动 装置 | ||
技术领域
本发明涉及一种发光二极管驱动技术,且特别涉及一种具有保护功能的发光二极管驱动装置。
背景技术
图1显示为传统发光二极管(light emitting diode,LED)驱动装置10的示意图。请参照图1,发光二极管驱动装置10适于驱动由多个发光二极管(LED)L串接在一起的发光二极管串(LED string)101,且其包括有控制晶片(control chip)103、外挂电路(extensioncircuit)105、功率开关(power switch)Q,以及电阻(resistor)Rcs。其中,控制晶片103会反应于节点(node)N2上的电压Vcs而产生驱动信号(driving signal)VPW来切换功率开关Q,从而使得发光二极管串101得以运行在定电流(constant current)之下而发光。
另外,外挂电路105由齐纳二极管(Zener diode)ZD、电阻R、电容C,以及比较器(comparator)CMP所组成。而且,在发光二极管驱动装置10的启动期间(activation phase),齐纳二极管ZD、电阻R与电容C用以检测节点N1上的电压VD,藉以产生检测电压VSLP。其中,检测电压VSLP在直流电压VBUS大于齐纳二极管ZD的电压值(Vz)时,其值等于流经齐纳二极管ZD的电流(Iz)乘上电阻R的阻值,亦即:VSLP=Iz*R。
与此同时,一旦比较器CMP比较出检测电压VSLP高于预设电压(predetermined voltage)VSET时,亦即发光二极管串101中有部分或全部的发光二级体L已发生短路(short),则比较器CMP就会输出错误信号(fault signal)FS给控制晶片103,藉以使得控制晶片103停止产生驱动信号VPW,从而保护控制晶片103与功率开关Q免于受高电(直流电压VBUS)的影响而损坏。
然而,传统发光二极管驱动装置10的架构存在着以下几点的问题:
1、通常在某些情况下(例如发光二极管串101中全部的发光二级体L已发生短路,或者功率开关Q在发光二极管驱动装置10的关闭期间而关闭时),节点N1的电压VD会很高(一般为好几百伏特),所以必须利用齐纳二极管ZD来挡住高压(直流电压VBUS)对于低压制程的比较器CMP与/或控制晶片103的影响;以及
2、齐纳二极管ZD的电压值(Vz)必须随着直流电压VBUS的改变而改变(例如:当直流电压VBUS为200V时,则必须选用电压值(Vz)为200V的齐纳二极管ZD,请依此类推),以至于传统发光二极管驱动装置10的架构无法将齐纳二极管ZD内建/整合在控制晶片103中。
发明内容
有鉴于此,本发明提出一种发光二极管驱动装置,以改善背景技术所述及的问题。
本发明提供一种发光二极管驱动装置,其适于驱动至少一发光二极管串,而且该发光二极管驱动装置包括功率开关、第一电阻,以及控制晶片。其中,功率开关的第一端耦接至第一节点,而功率开关的第二端则耦接至第二节点,且发光二极管串耦接在直流电压与第一节点之间。第一电阻耦接在第二节点与接地电位之间。控制晶片耦接功率开关的控制端以及第一与第二节点,用以在发光二极管驱动装置的启动期间,反应于第二节点的电压与稳定电压而产生驱动信号来切换功率开关,从而使得发光二极管串运行在定电流之下而发光,并且反应于第一节点的电压而获得检测电压以与预设电压进行比较,从而当所述检测电压高于所述预设电压时,停止产生所述驱动信号。
在本发明的一实施例中,控制晶片还用以在发光二极管驱动装置的关闭期间,限制流经发光二极管串的电流,从而使得发光二极管串停止发光。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于力林科技股份有限公司,未经力林科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110075775.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。