[发明专利]非易失性半导体存储装置有效

专利信息
申请号: 201110064421.7 申请日: 2011-03-17
公开(公告)号: CN102194524A 公开(公告)日: 2011-09-21
发明(设计)人: 川端优;山崎信夫;太田佳似;石原数也;栗屋信义;北川章夫;中山和也 申请(专利权)人: 夏普株式会社;国立大学法人金泽大学
主分类号: G11C16/24 分类号: G11C16/24
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 王岳;王忠忠
地址: 日本大阪*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 非易失性 半导体 存储 装置
【权利要求书】:

1.一种非易失性半导体存储装置,其中,

具有二维存储单元阵列,在该二维存储单元阵列中,将具备利用电阻变化来存储信息的非易失性可变电阻元件的二端子型存储单元,以矩阵状分别在相互垂直的第一方向和第二方向上排列多个,并具备在上述第一方向上延伸的多条位线和在上述第二方向上延伸的多条数据线,将上述第一方向的位置相同的上述存储单元的一端彼此连接于上述数据线,将上述第二方向的位置相同的上述存储单元的另一端彼此连接于上述位线,

上述非易失性半导体存储装置还具备:

位线电压供给电路,针对上述位线的每一条,对与被选择为读出对象的上述存储单元的另一端连接的选择位线供给规定的第一电压,对于与不是读出对象的非选择的上述存储单元的另一端连接的非选择位线供给规定的第二电压;

数据线电压供给电路,对与被选择为读出对象的上述存储单元的一端连接的选择数据线、以及与不是读出对象的非选择的上述存储单元的一端连接的非选择数据线,分别供给上述第二电压;以及

读出电路,在读出时,将流过上述选择数据线的电流与流过上述非选择数据线的电流分离后进行感测,感测被选择的上述存储单元的电阻状态,

上述数据线电压供给电路具备:将上述数据线各别地设定为上述选择数据线或上述非选择数据线的任一个的数据线选择电路,

上述位线电压供给电路具备:将上述位线各别地设定为上述选择位线或上述非选择位线的任一个的位线选择电路、以及位线电压调整电路,

上述位线电压调整电路具备第一运算放大器和MOS晶体管,其中,在该MOS晶体管中,栅极端子与上述第一运算放大器的输出端子连接,漏极端子与上述第一运算放大器的反相输入端子连接,源极端子与规定的固定电位连接,

通过对上述第一运算放大器的非反相输入端子施加上述第一电压或上述第二电压的任一个,从而将上述第一运算放大器的反相输入端子的电压固定在作为上述第一运算放大器的非反相输入端子的电压的上述第一电压或上述第二电压的任一个,

将上述固定后的电压从上述MOS晶体管经由上述MOS晶体管的漏极端子与上述第一运算放大器的反相输入端子的连接节点供给到上述位线。

2.根据权利要求1所述的非易失性半导体存储装置,其中,

按上述位线的每一条、或按经由选择元件将规定数的上述位线彼此连接起来的上述位线组的每一个,具备上述位线电压调整电路,

在上述位线是上述选择位线、或在上述位线组中包含上述选择位线的情况下,根据上述位线选择电路的输出,将对应的上述位线电压调整电路的上述第一运算放大器的反相输入端子的电压,固定在作为上述第一运算放大器的非反相输入端子的电压的上述第一电压,

在上述位线是上述非选择位线、或属于上述位线组的上述位线的全部均为上述非选择位线的情况下,根据上述位线选择电路的输出,将对应的上述位线电压调整电路的上述第一运算放大器的反相输入端子的电压,固定在作为上述第一运算放大器的非反相输入端子的电压的上述第二电压。

3.根据权利要求1所述的非易失性半导体存储装置,其中,上述位线电压供给电路具备第一上述位线电压调整电路,其中,在该第一上述位线电压调整电路中,将上述第一运算放大器的反相输入端子的电压固定在作为上述第一运算放大器的非反相输入端子的电压的上述第二电压,将上述固定后的上述第二电压经由上述MOS晶体管的漏极端子与上述第一运算放大器的反相输入端子的连接节点、以及上述位线选择电路供给到上述非选择位线。

4.根据权利要求3所述的非易失性半导体存储装置,其中,上述位线电压供给电路具备第二上述位线电压调整电路,其中,在该第二上述位线电压调整电路中,将上述第一运算放大器的反相输入端子的电压固定在作为上述第一运算放大器的非反相输入端子的电压的上述第一电压,将上述固定后的上述第一电压经由上述MOS晶体管的漏极端子与上述第一运算放大器的反相输入端子的连接节点、以及上述位线选择电路供给到上述选择位线。

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