[发明专利]固体摄像装置无效
申请号: | 201110051981.9 | 申请日: | 2011-03-03 |
公开(公告)号: | CN102202225A | 公开(公告)日: | 2011-09-28 |
发明(设计)人: | 日高喜代志 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | H04N17/00 | 分类号: | H04N17/00 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 陈萍 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 固体 摄像 装置 | ||
本发明基于并要求享受申请号为2010-69345、申请日为2010年3月25日的日本专利申请的优先权,该在先专利申请的所有内容通过参考包含在本申请中。
技术领域
本实施方式一般涉及固体摄像装置。
背景技术
在固体摄像装置中,通过在配置有图像传感器的镜筒上固定透镜、并将图像传感器和透镜进行模块化,由此将图像传感器和透镜进行一体化。
在该方法中,在将图像传感器和透镜进行模块化的情况下,由于透镜或镜筒的制造偏差、透镜的变形或透镜的安装位置的偏差等,有时在从固体摄像装置输出的图像上产生偏移或变形等。
此外,为了能够高精度地直观、定量地识别从投影仪投射的投射图像的形状变形,有如下方法:生成用于校正投射图像的形状变形的图表图像,将该图表图像投射到投影仪上,对从该投影仪投射的投射图像进行摄像,对该摄像的传感器图像进行分析来取得该传感图像的坐标,将混合该分析的传感图像和图表图像之后的混合图像显示于投影仪上。
在该方法中,虽然能够直观地识别从投影仪投射的投射图像的形状变形,但是不能校正从投影仪投射的投射图像的偏移和变形等。
发明内容
本发明所要解决的技术课题是,提供一种能够校正从固体摄像装置输出的图像的偏移或变形等的固体摄像装置。
实施方式的固体摄像装置的特征在于,包括:
图像传感器,进行摄像;
校正参数存储部,存储校正参数,该校正参数用于按每个像素校正由上述图像传感器摄像的摄像图像的位置;以及
图像位置校正部,根据上述校正参数,按每个像素校正上述摄像图像的位置。
根据上述结构的固体摄像装置,能够校正从固体摄像装置输出的图像的偏移或变形。
附图说明
图1是示出本发明的第一实施方式的固体摄像装置的概略结构的框图。
图2(a)是示出图1的测试图的概略结构的一例的俯视图,图2(b)是示出图1的测试图的摄像图像12′的一例的俯视图。
图3(a)~图3(h)是示出用于图1的测试图中的标记的其他例子的图。
图4是示出在图1的个人计算机1中进行的标记位置检测方法的流程图。
图5是示出图2的测试图的摄像图像的检测位置的俯视图。
图6是示出图4的标记位置检测方法的具体处理的流程图。
图7(a)和图7(b)是示出在图6的标记位置检测方法中、在与标记位置不同的位置的像素被指定时的、成为累加运算对象的像素的图。
图8(a)和图8(b)是示出在图6的标记位置检测方法中、在与标记位置一致的位置的像素被指定时的、成为累加运算对象的像素的图。
图9是示出图4的标记位置检测方法的右端位置检测的具体处理的流程图。
图10(a)和图10(b)是示出图9的右端位置检测处理中的像素的指定方法的图。
图11是示出图4的标记位置检测方法的左端位置检测的具体处理的流程图。
图12是示出图4的标记位置检测方法的上端位置检测的具体处理的流程图。
图13是示出图4的标记位置检测方法的下端位置检测的具体处理的流程图。
图14是示出本发明的第二实施方式的固体摄像装置的概略结构的截面图。
图15是示出本发明的第三实施方式的固体摄像装置的概略结构的框图。
图16是示出本发明的第四实施方式的固体摄像装置的概略结构的框图。
具体实施方式
根据实施方式,设有图像传感器、校正参数存储部和图像位置校正部。图像传感器进行摄像。校正参数存储部存储校正参数,该校正参数用于按每个像素校正由上述图像传感器摄像的摄像图像的位置。图像位置校正部根据上述校正参数,按每个像素校正上述摄像图像的位置。下面,参照附图,对本发明的实施方式的固体摄像装置进行说明。此外,本发明不限定于这些实施方式。
(第一实施方式)
图1是示出本发明的第一实施方式的固体摄像装置的概略结构的框图。
在图1中,在固体摄像装置1上设有:图像传感器2,定时信号生成电路3,A/D转换器4,信号处理电路5,图像位置校正电路6,影像信号接口电路7,寄存器接口8以及校正参数寄存器9。
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