[发明专利]光头以及光盘装置

说明书

技术领域

本发明涉及光盘装置的再生信号的高S/N化。 

背景技术

关于光盘，到使用蓝色半导体激光器、高NA物镜的蓝光光盘已经产品化的阶段，作为光学系统的分辨率几乎到达了极限，面对进一步的大容量化，今后考虑记录层的多层化是起作用的。在这样的多层光盘中，由于需要来自各记录层的检测光量大体相同，不得不减小来自特定的记录层的反射率。但是，由于在光盘大容量化的同时还需要视频等的配音速度的高速化，所以数据传输速度的高速化也在继续进行，在这样的情况下无法充分确保再生信号的S/N比(信噪比)。因此，为了今后同时推进记录层的多层化和高速化，需要检测信号的高S/N化。 

例如在专利文献1、专利文献2以及专利文献3等中叙述了与光盘的再生信号的高S/N化有关的技术。专利文献1、专利文献2与磁光盘的再生信号的高S/N化有关，目的在于使来自半导体激光器的光在照射到光盘之前分支，使不照射光盘的光与来自光盘的反射光合波来进行干涉，由此经由增大不照射在光盘的光的光量来放大微弱信号的振幅。目前在磁光盘的信号检测中使用的偏振分束器的透过光和反射光的差动检测中，本质上是使原本的入射偏振成分与经过磁光盘的偏振旋转而产生的与入射偏振方向垂直的偏振成分干涉，以入射偏振光放大垂直偏振成分来进行检测。因此，如果增大原本的入射偏振成分则能增大信号，但是需要将入射到光盘的光强度抑制到某种程度以下，以便不会消除或者覆盖数据。对此，在上述现有技术中，预先分离与信号光干涉的光，能够与盘表面的光强度无关系地增强使其不是在光盘上聚光地与信号光干涉、、而是用于信号放大而干涉的光的强度。由此在原理上光强度的允许范围内，越增大强度，越能够提高与对来自光检测器的光电流进行电压变换的放大器的噪音相比的S/N比。在专利文献3中，关于使用光致变色介质的光盘的再 生信号的高S/N比，与参考文献1、参照文献2相同，经由使不照射光盘的光与来自光盘的反射光干涉，来进行信号放大。关于使用光致变色介质的光盘，因为用于信号再生的入射光的强度越高越加速介质的恶化，所以与上述磁光盘相同向记录介质照射的光的强度具有限制。 

在专利文献1中，使两个光干涉来检测干涉光强度。此时，使干涉的盘反射光的光路长度可变，来确保干涉信号振幅。在专利文献2、专利文献3、专利文献4中除了干涉光强度检测，还进行差动检测。由此消除对信号无作用的各光的强度成分，经由使信号振幅成为2倍来实现高S/N化。 

一般，由两个光的干涉得到的干涉信号的振幅依赖于干涉的两个光之间的相位差(光路长度差)，当上述光路长度差以使用的光源的波长程度的等级进行变动时，振幅变动变得不稳定。对此，在专利文献4、专利文献5、专利文献6、专利文献7中生成相互干涉状态不同的多个干涉信号，通过它们的运算来生成信号，由此谋求输出不依赖于干涉相位的放大信号。 

【专利文献1】日本特开平5-342678号公报 

【专利文献2】日本特开平6-223433号公报 

【专利文献3】日本特开平6-068470号公报 

【专利文献4】日本特开2008-65961号公报 

【专利文献5】日本特开2008-243273号公报 

【专利文献6】日本特开2008-310942号公报 

【专利文献7】日本特开2008-269680号公报 

发明内容