[发明专利]光头以及光盘装置

权利要求书

1.一种光头，其特征在于，包括：

光源；

偏振分离单元，其把从光源出射的光束分离为信号光束和参照光束；

聚光单元，其把所述信号光束聚光并照射在光信息记录介质上；

平行光出射单元，其对从所述光信息记录介质反射并遵循逆向的轨迹的信号光，伴有位置偏移地平行地出射所述参照光；

第二偏振分离单元，其分离所述信号光和所述参照光的偏振光；

合波单元，其将由所述偏振分离单元生成的信号光和参照光的各个进行合波，产生合波光束；

干涉光生成单元，其从所述合波光束产生信号光和参照光的干涉光；以及

检测器，其检测从所述干涉光生成单元生成的干涉光的各个。

2.根据权利要求1所述的光头，其特征在于，

所述平行光出射单元包括伴有位置偏移地平行地出射从所述偏振分离单元生成的参照光的平行光反射单元以及所述偏振分离单元，所述偏振分离单元反射从所述平行光反射单元出射的参照光。

3.根据权利要求2所述的光头，其特征在于，

所述平行光反射单元是角锥棱镜。

4.根据权利要求2所述的光头，其特征在于，

所述平行光反射单元是在与中心轴不同的位置，与中心轴平行地入射所述参照光的聚光单元和配置在所述聚光单元的焦点位置的反射镜。

5.根据权利要求1所述的光头，其特征在于，

所述平行光出射单元包括：

反射单元，其不伴有位置偏移地向相反的方向出射从所述偏振分离单元生成的参照光；

所述偏振分离单元，其使从所述光信息记录介质反射的信号光和从所述反射单元反射的参照光进行合波，产生合波光束；以及

平行光分离单元，其将所述合波光束的信号光和参照光平行地进行分离。

6.根据权利要求5所述的光头，其特征在于，

所述平行光分离单元是光束位移器。

7.根据权利要求1所述的光头，其特征在于，

所述第二偏振分离单元和所述合波单元的各个是光束位移器。

8.根据权利要求1所述的光头，其特征在于，

所述第二偏振分离单元和所述合波单元是单一的偏振分束器。

9.一种光头，其特征在于，包括：

光源；

偏振分离单元，其把从光源出射的光束分离为信号光束和参照光束；

聚光单元，其把所述信号光束聚光并照射在光信息记录介质上；

平行光反射单元，其伴有位置偏移地平行地反射所述参照光；

偏振合波单元，其把从所述光信息记录介质出射的信号光和由所述平行光反射单元反射的参照光进行合波，生成合波光束；

干涉光生成单元，其从所述合波光束产生信号光和参照光的干涉光；以及

检测器，其检测从所述干涉光生成单元生成的干涉光的各个。

10.一种光盘装置，其特征在于，具有

光头、控制部、和信号处理部，

所述光头包括：

光源；

偏振分离单元，其把从光源出射的光束分离为信号光束和参照光束；

聚光单元，其把所述信号光束聚光并照射在光信息记录介质上；

平行光出射单元，其对从所述光信息记录介质反射并遵循逆向的轨迹的信号光，伴有位置偏移地平行地出射所述参照光；

第二偏振分离单元，其分离所述信号光和所述参照光的偏振光；

合波单元，其将由所述偏振分离单元生成的信号光和参照光的各个进行合波，产生合波光束：

干涉光生成单元，其从所述合波光束产生信号光与参照光的干涉光；以及

检测器，其检测从所述干涉光生成单元生成的干涉光的各个，

所述控制部控制所述光头以及所述聚光单元的位置、和所述光源的发光状态，

所述信号处理部进行以所述检测器的输出作为输入的运算，取得所述运算的输出作为再生信号。

11.根据权利要求10所述的光盘装置，其特征在于，

所述平行光出射单元包括伴有位置偏移地平行地出射从所述偏振分离单元生成的参照光的平行光反射单元以及所述偏振分离单元，所述偏振分离单元反射从所述平行光反射单元出射的参照光。