[发明专利]一种高深宽比微型气相色谱柱及其湿法腐蚀制作方法无效

专利信息
申请号: 201110029478.3 申请日: 2011-01-27
公开(公告)号: CN102183602A 公开(公告)日: 2011-09-14
发明(设计)人: 杜晓松;王力;廖明杰;蒋亚东 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01N30/60 分类号: G01N30/60;B81C1/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 高深 微型 色谱 及其 湿法 腐蚀 制作方法
【权利要求书】:

1.一种高深宽比微型气相色谱柱,包括一个硅基板,一个玻璃顶盖,一个薄膜加热器和固定相薄膜;硅基板的正面刻蚀有蛇形深槽,背面制作有薄膜加热器;玻璃顶盖上刻蚀有进气口和出气口;固定相薄膜涂覆在深槽的内壁;其特征在于,所述硅基板为(110)单晶硅片,所述蛇形深槽的断面为矩形,蛇形深槽在硅基板平面上为折线形,其长边沿<110>晶向,短边沿<112>晶向,或长边沿<112>晶向,短边沿<110>晶向,长边与短边的夹角为70.53°。

2.根据权利要求1所述的高深宽比微型气相色谱柱,其特征在于,所述蛇形深槽的深度为200-800μm,宽度为30-150μm,深宽比大于5,蛇形深槽的长度为0.5-6m。

3.一种高深宽比微型气相色谱柱的湿法腐蚀制备方法,其特征在于,包括以下步骤:

①掩模板制作:色谱柱沟槽设计为折线形,其长边与短边的夹角为70.53°;

②掩模层薄膜制备:采用PECVD在(110)单晶硅片上沉积Si3N4薄膜作为掩模;

③光刻:首先旋涂光刻胶,然后将掩模板的长、短边分别与单晶硅片的<110>和<112>晶向对准后,进行曝光、显影,将掩模板的图形转移到光刻胶上,随后刻蚀Si3N4薄膜掩模层,最后去除光刻胶;

④深硅刻蚀:利用KOH或TMAH或EDP各向异性腐蚀液对硅片进行湿法腐蚀,制备深槽结构;

⑤硅玻键合:采用阳极键合将玻璃封盖在(110)单晶硅片的正面,玻璃顶盖上预先加工有进气口和出气口;

⑥加热器制备:在(110)单晶硅片的背面溅射制备Ti/Pt薄膜加热器;

⑦固定相薄膜涂覆。

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