[发明专利]修复存储芯片的方法和装置、存储芯片

权利要求书

1.一种修复存储芯片的方法，其特征在于，包括：

地址匹配步骤：通过第一接口，对正常存储单元进行地址匹配操作，所述地址匹配操作包括将当前地址匹配操作地址和记录的错误地址进行匹配的操作，若匹配成功，则执行修复步骤，否则执行第一配置步骤；所述地址匹配操作还包括针对正常存储单元所在的目标块进行擦除操作；

过擦除检验步骤：在所述擦除操作成功后，通过第二接口，校验备份存储单元是否处于过擦除状态，若是，则执行软编程步骤，否则，转向修复步骤；

软编程步骤：通过第二接口，对处于过擦除状态的备份存储单元进行软编程操作，并在软编程结束后转向修复步骤；

修复步骤：使用备份存储单元替代与当前地址匹配操作地址对应的正常存储单元，并执行第二配置步骤；

第一配置步骤：针对当前地址匹配操作地址，建立第一接口打开和第二接口关闭的第一配置；

第二配置步骤：针对当前地址匹配操作地址，建立第一接口关闭和第二接口打开的第二配置。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

软编程校验步骤：校验备份存储单元的阈值电压是否大于零，若是，则结束软编程操作，，并转向修复步骤，否则，返回软编程步骤继续执行软编程操作。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述擦除操作之前，所述方法还包括：

预编程步骤：通过第二接口，对备份存储单元进行预编程操作。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述预编程步骤之前，所述方法还包括：

预编程校验步骤：通过第二接口，校验备份存储单元是否需要进行预编程操作，若是，则执行预编程步骤，否则，执行地址匹配步骤。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

设置步骤：设置寄存器，由该寄存器的输出控制所述第一接口和第二接口的打开和关闭。

6.如权利要求1至5中任一项所述的方法，其特征在于，还包括：

使用步骤：在用户使用存储芯片的过程中，若用户输入的地址与第一配置相匹配，则打开第一接口，以及关闭第二接口；若用户输入的地址与第二配置相匹配，则关闭第一接口，以及打开第二接口。

7.一种修复存储芯片的装置，其特征在于，包括：

地址匹配模块，用于通过第一接口，对正常存储单元进行地址匹配操作，所述地址匹配操作包括将当前地址匹配操作地址和记录的错误地址进行匹配的操作当前地址匹配操作地址，若匹配成功，则触发修复模块，否则触发第一配置模块；所述地址匹配操作还包括针对正常存储单元所在的目标块进行擦除操作；

过擦除检验模块，与修复模块连接，用于在所述擦除操作成功后，通过第二接口，校验备份存储单元是否处于过擦除状态，若是，则触发软编程模块；

软编程模块，与修复模块连接，用于通过第二接口，对处于过擦除状态的备份存储单元进行软编程操作；

修复模块，用于使用备份存储单元替代与当前地址匹配操作地址对应的正常存储单元，并触发第二配置模块：

第一配置模块，用于针对当前地址匹配操作地址，建立第一接口打开和第二接口关闭的第一配置；及

第二配置模块，用于针对当前地址匹配操作地址，建立第一接口关闭和第二接口打开的第二配置。

8.如权利要求7所述的装置，其特征在于，还包括：

软编程校验模块，用于校验备份存储单元的阈值电压是否大于零，若是，则通知所述软编程模块结束软编程操作，否则，通知所述软编程模块继续执行软编程操作。

9.如权利要求7所述的装置，其特征在于，还包括：

预编程模块，用于在所述擦除操作之前，通过第二接口，对备份存储单元进行预编程操作。

10.如权利要求9所述的装置，其特征在于，还包括：

预编程校验模块，与所述预编程模块和地址匹配模块相连，用于在触发所述预编程模块之前，通过第二接口，校验备份存储单元是否需要进行预编程操作。

11.如权利要求7所述的装置，其特征在于，还包括：

寄存器，其与所述第一接口和第二接口相连，用于控制所述第一接口和第二接口的打开和关闭。