[发明专利]一种分光光度法测定铜离子的新型显色体及其制备工艺无效
| 申请号: | 201110022854.6 | 申请日: | 2011-01-20 |
| 公开(公告)号: | CN102175676A | 公开(公告)日: | 2011-09-07 |
| 发明(设计)人: | 阴强 | 申请(专利权)人: | 东华理工大学 |
| 主分类号: | G01N21/78 | 分类号: | G01N21/78 |
| 代理公司: | 南昌新天下专利商标代理有限公司 36115 | 代理人: | 胡山 |
| 地址: | 344000*** | 国省代码: | 江西;36 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 分光光度法 测定 离子 新型 显色 及其 制备 工艺 | ||
1.一种分光光度法测定痕量铜离子的新型显色体,它利用石墨烯带作为增敏剂,苯基酮作为显色剂,NaH2SO4—Na2HSO4作为缓冲剂,其特征是由以下各组份及体积比组成:0.1g/L羧基化石墨烯带溶液:0.1g/L苯基酮溶液:0.2mol/L的NaH2SO4—0.2mol/L的Na2HSO4缓冲溶液:水=0.5~1.5:1~3:1.5~4.5:16~22,缓冲溶液的pH=5.8~6.5,NaH2SO4溶液与Na2HSO4溶液的体积比为68~92 : 8~32,以上所述溶液的溶剂为水。
2.权利要求1所述的一种分光光度法测定痕量铜离子的新型显色体的制备工艺,其特征在于制备步骤包括:石墨烯带的表面修饰、各单组分溶液的配置和显色体系的配置;
(1)石墨烯带的表面修饰工艺:
将石墨烯带及H2O2以重量比为1:45~55依次放入容器内,用浓硫酸调节pH值在1~5之间,并在波长为185~436nm紫外线照射下进行表面处理1~5h,然后对溶液进行抽滤,将经过表面处理的石墨烯带进行真空干燥后得羧基化石墨烯带;
(2)各单组分溶液的配置:
分别称取一定量的羧基化石墨烯带、苯基酮、NaH2SO4和Na2HSO4,溶于水中,配置0.1g/L羧基化石墨烯带溶液、0.1g/L苯基酮溶液、0.2mol/L的NaH2SO4和0.2mol/L的Na2HSO4,NaH2SO4溶液与Na2HSO4溶液的体积比按:68~92 : 8~32,配置0.2mol/L的NaH2SO4—Na2HSO4缓冲溶液,并使缓冲溶液的pH值为5.8~6.5之间;
(3)显色体的配置:
混合加入顺序分别为将步骤(2)中配置好的苯基酮溶液、羧基化石墨烯带溶液、NaH2SO4—Na2HSO4缓冲溶液和水。
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