[发明专利]基于短小圆弧的三坐标检测方法无效
| 申请号： | 201110020203.3 | 申请日： | 2011-01-18 |
| 公开（公告）号： | CN102589503A | 公开（公告）日： | 2012-07-18 |
| 发明（设计）人： | 黄献泉 | 申请（专利权）人： | 苏州春兴精工股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/10 | 分类号： | G01B21/10;G01B21/00 |
| 代理公司： | 南京苏科专利代理有限责任公司 32102 | 代理人： | 陈忠辉;姚姣阳 |
| 地址： | 215121 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 短小 圆弧 坐标 检测 方法 | ||
【权利要求书】：
1.基于短小圆弧的三坐标检测方法，其特征在于包括以下步骤：
步骤①，对待检测的零件进行定位装夹，令零件的基准轴线平行于Z轴；
步骤②，对待测部位进行离散采点；
步骤③，采用PC DMIS软件，以极坐标方式评估小圆弧的半径。
2.根据权利要求1所述的基于短小圆弧的三坐标检测方法，其特征在于：所述的离散采点为将待测部位进行上、中、下至少三个层次的划分，对每个层次至少采集10个分布均匀的点。
3.根据权利要求2所述的基于短小圆弧的三坐标检测方法，其特征在于：所述的对每个层次至少采集10个分布均匀的点，其每层取点的长度一致。
4.根据权利要求2所述的基于短小圆弧的三坐标检测方法，其特征在于：所述的上、中、下三个层次小圆弧的起始角度及终止角度需一致，且圆弧长度一致。
5.根据权利要求1所述的基于短小圆弧的三坐标检测方法，其特征在于：所述的评估为，上、中、下三个层次小圆弧的半径的平均值即为圆弧R的真实测量半径。
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