[发明专利]一种存储芯片的修复装置和方法

权利要求书

1.一种存储芯片的修复装置，其特征在于，位于存储芯片内部，包括：

数据比较模块，用于在自动测试设备并行读取存储芯片时，对所处存储芯片的当前地址中的数据与预设目标数据进行比较；

错误地址寄存器，用于在该当前地址中的数据不同于预设目标数据时，将该当前地址作为错误地址进行记录；及

保存模块，用于在所处存储芯片读取完毕时，保存所述错误地址寄存器中的错误地址。

2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，还包括控制状态机，用于控制所述数据比较模块、错误地址寄存器和保存模块的操作。

3.如权利要求2所述的装置，其特征在于，所述控制状态机包括：

设定模块，用于在自动测试设备并行读取存储芯片前，依据外界的准备指令，将所处存储芯片的地址中的数据设定为所述预设目标数据。

4.如权利要求2所述的装置，其特征在于，所述控制状态机包括：

保存控制模块，用于在所处存储芯片读取完毕时，依据外界的保存指令，通过控制将所述错误地址寄存器中的错误地址保存至所述保存模块。

5.如权利要求2所述的装置，其特征在于，所述数据比较模块，还用于在该当前地址中的数据不同于预设目标数据时，发送错误信号至所述控制状态机；

所述控制状态机包括：

记录控制模块，用于依据所述错误信号，通过控制将该当前地址作为错误地址记录至所述错误地址寄存器。

6.如权利要求2所述的装置，其特征在于，所述控制状态机包括：

增加模块，用于在所处存储芯片中增设冗余空间；

地址比较模块，用于将所述保存模块中保存的错误地址和外界输入的地址进行比较；及

替代模块，用于在所述保存模块中保存的错误地址与外界输入的地址相同时，使用冗余空间来替代所处存储芯片中的该错误地址对应的空间。

7.如权利要求6所述的装置，其特征在于，所述控制状态机还包括：

冗余设定模块，用于在自动测试设备并行读取存储芯片前，依据外界的准备指令，将所述冗余空间中的数据设定为第一预设目标数据。

8.一种存储芯片的修复方法，其特征在于，所述方法在存储芯片内部执行，包括：

比较步骤：在自动测试设备并行读取存储芯片时，对所处存储芯片的当前地址中的数据与预设目标数据进行比较；

记录步骤：在该当前地址中的数据不同于预设目标数据时，将该当前地址作为错误地址记录到错误地址寄存器；

保存步骤：在所处存储芯片读取完毕时，保存所述错误地址寄存器中的错误地址。

9.如权利要求8所述的方法，其特征在于，还包括：

控制步骤：利用控制状态机控制所述比较步骤、记录步骤和保存步骤的执行。

10.如权利要求9所述的方法，其特征在于，所述控制步骤包括：

在自动测试设备并行读取存储芯片前，依据外界的准备指令，将所处存储芯片的地址中的数据设定为所述预设目标数据。

11.如权利要求9所述的方法，其特征在于，所述控制步骤包括：

在所处存储芯片读取完毕时，依据外界的保存指令，通过控制将所述错误地址寄存器中的错误地址保存至所述保存模块。

12.如权利要求9所述的方法，其特征在于，所述比较步骤还包括：

在该当前地址中的数据不同于预设目标数据时，发送错误信号至所述控制状态机；

所述控制步骤包括：

依据所述错误信号，通过控制将该当前地址作为错误地址记录至所述错误地址寄存器。

13.如权利要求9所述的方法，其特征在于，还包括：

在所处存储芯片中增设冗余空间；

将所述保存模块中保存的错误地址和外界输入的地址进行比较；

在所述保存模块中保存的错误地址与外界输入的地址相同时，使用冗余空间来替代所处存储芯片中的该错误地址对应的空间。

14.如权利要求13所述的方法，其特征在于，还包括：

在自动测试设备并行读取存储芯片前，依据外界的准备指令，将所述冗余空间中的数据设定为第一预设目标数据。