[发明专利]显影装置、并入该显影装置的处理盒和成像设备有效
申请号: | 201110000764.7 | 申请日: | 2011-01-05 |
公开(公告)号: | CN102117035A | 公开(公告)日: | 2011-07-06 |
发明(设计)人: | 小川嘉子;石井保之;小杉秀树;山田正明;黑川笃;石仓裕司 | 申请(专利权)人: | 株式会社理光 |
主分类号: | G03G15/08 | 分类号: | G03G15/08;G03G15/06;G03G21/18;G03G15/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 周少杰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显影 装置 并入 处理 成像 设备 | ||
1.一种显影装置,用于促使显影剂附着到潜像载体上形成的静电潜像上,所述显影装置包括:
显影剂容器,用于包含所述显影剂;
旋转的圆柱形显影剂载体,布置在所述显影剂容器中,面向所述潜像载体;
所述显影剂载体包括:
多个外侧电极,安排在所述显影剂载体的圆周方向中,
内侧电极,提供在距所述多个外侧电极的所述显影剂载体的内圆周侧上,并且与所述多个外侧电极电绝缘,
绝缘层,布置在所述多个外侧电极和所述内侧电极之间,以及
表面层,覆盖所述多个外侧电极中的每一个外侧电极的外侧,并且使所述多个外侧电极彼此电绝缘;
偏置电源,通过分别向所述内侧电极和所述多个外侧电极施加第一偏置电压和第二偏置电压,以在所述显影剂载体的圆周表面上生成电场,所述电场随时间改变并且促使所述显影剂在所述显影剂载体上跳动;
电场调节器,通过依据所述显影剂载体的所述表面层的厚度来调节所述电场,以保持在所述显影剂载体上跳动的所述显影剂的状态恒定;以及
控制器,操作性地连接到所述电场调节器,用于控制所述电场调节器。
2.根据权利要求1所述的显影装置,其中所述电场调节器包括电压调节器,用于调节分别施加到所述内侧电极和所述多个外侧电极的所述第一偏置电压和所述第二偏置电压中的每一个的峰峰值电压。
3.根据权利要求1所述的显影装置,其中所述电场调节器包括上升时间调节器,用于调节分别施加到所述内侧电极和所述多个外侧电极的所述第一偏置电压和所述第二偏置电压中的每一个的上升时间。
4.根据权利要求1所述的显影装置,其中所述电场调节器包括频率调节器,用于调节分别施加到所述内侧电极和所述多个外侧电极的所述第一偏置电压和所述第二偏置电压中的每一个的频率。
5.根据权利要求1所述的显影装置,其中所述电场调节器包括相位调节器,用于调节分别施加到所述内侧电极和所述多个外侧电极的所述第一偏置电压和所述第二偏置电压之间的相位差。
6.根据权利要求1至5任一项所述的显影装置,还包括层厚度估计装置,用于通过估计所述显影剂载体的所述表面层的厚度的改变,生成所述显影剂载体的所述表面层的估计厚度,
其中所述电场调节器依据所述显影剂载体的所述表面层的估计厚度调节所述电场。
7.根据权利要求6所述的显影装置,其中所述层厚度估计装置包括检测所述显影剂载体已经旋转的次数的第一旋转数检测器。
8.根据权利要求6所述的显影装置,其中所述层厚度估计装置包括检测所述潜像载体已经旋转的次数的第二旋转数检测器。
9.根据权利要求6所述的显影装置,还包括环境条件检测器,用于检测所述显影装置周围的环境条件并且生成环境条件值,
其中根据由所述环境条件检测器生成的所述环境条件值,调节由所述层厚度估计装置估计的所述显影剂载体的所述表面层的估计厚度。
10.根据权利要求1至5任一项所述的显影装置,还包括环境条件检测器,用于检测所述显影装置周围的环境条件并且生成环境条件值,
其中所述控制器基于所述环境条件值来计算所述显影剂容器中所述显影剂的电荷量的改变,并且
所述电场调节器依据所述显影剂的电荷量的改变来调节所述电场。
11.一种在成像设备中可移除地安装的处理盒,包括根据权利要求1至5任一项所述的显影装置,
其中在公共外壳中容纳潜像载体、充电装置以及清洁装置中的至少一个以及所述显影装置。
12.一种成像设备,包括根据权利要求1至5任一项所述的显影装置。
13.一种成像设备,包括根据权利要求11所述的处理盒。
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