[发明专利]选择纹理映射水平的方法及利用该方法的材质贴图系统有效
申请号: | 201080068772.9 | 申请日: | 2010-08-27 |
公开(公告)号: | CN103080981A | 公开(公告)日: | 2013-05-01 |
发明(设计)人: | 朴祐赞;尹亨敏 | 申请(专利权)人: | 矽锂铬艺术有限公司;世宗大学校产学协力团 |
主分类号: | G06T15/04 | 分类号: | G06T15/04 |
代理公司: | 广州三环专利代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝传鑫;熊永强 |
地址: | 韩国首尔特别市江东*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 选择 纹理 映射 水平 方法 利用 材质 贴图 系统 | ||
技术领域
本发明涉及一种选择纹理映射水平的方法及一种利用该方法的材质贴图系统,尤其涉及一种选择纹理图像的纹理映射水平的方法和一种利用该方法的材质贴图系统。
背景技术
在计算机图形领域,材质贴图是一种用于在虚拟三维对象的表面上绘制详细的纹理或喷绘颜色的方案。在材质贴图中,通过利用多种方法,数学方程式或二维图片可绘制在一个三维对象的表面上,以至于该数学方程或二维图片看起来像一个真实的对象一样。
纹理映射是用于提高三维图形的材质贴图领域的绘制速度,且由基本纹理和从该基本纹理连续减少的纹理构成。
发明内容
在实施例中,一种用于基于材质贴图的全局光照的选择纹理映射水平的方法。在该选择纹理映射水平的方法中,识别屏幕中的至少一个对象的对象信息。该对象信息可包括至少一个对象的数量、该至少一个对象的形状、屏幕中该至少一个对象的材质和/或屏幕空间中相关对象的位置。纹理映射水平选择算法是基于该对象信息而确定的。该纹理映射水平选择算法可包括微分方法和/或距离测量方法,该微分方法可基于相邻光线的微分值选择纹理映射,以及距离测量方法通过计算距离选择纹理映射,其中,设定像素和纹理的比例为1:1。基于确定的方法选择纹理映射水平。在一个实施例中,确定提供图像的图像质量和/或处理速度的需求。纹理映射水平选择算法可以基于该确定的结果而确定。例如,由于该确定的结果,当相应图像的图像质量的需求水平变高,微分方法可选择用来作为纹理映射水平选择算法。作为另一个例子,当由于确定的结果,相应图像的处理速度的需求水平变高,距离测量方法可选择用来作为纹理映射水平选择算法。在一个实施例中,选择纹理映射水平的方法包括基于纹理的大小和屏幕的大小而计算纹理的像素的大小,基于对应于三角形纹理的三个顶点的纹理坐标而计算包含在三角形中的纹理的数量,基于计算出的像素大小和计算出的纹理数量来计算三角形的大小,基于对应给定的三角形的三个顶点的模型坐标,来计算给定的三角形的大小,以及基于两个计算出的三角形的大小的值,来计算距离,其中,像素和纹理的比例设定为1:1。
在实施例中,利用选择纹理映射水平方法的材质贴图系统包括对象信息存储单元、对象信息识别单元、算法确定单元、距离测量方法操作单元以及纹理映射水平选择单元。该对象信息存储单元存储显示在屏幕中的对象的对象信息。该对象信息可包括屏幕中呈现的对象的数量、对象的形状和材质和/或出现在屏幕的空间中相关对象的位置。该物理信息识别单元从所述对象信息存储单元获取将要显示在屏幕中的目标对象的对象信息和识别获取的对象。该算法确定单元分析从所述对象信息识别单元获取的对象信息和基于分析出的对象信息确定选择纹理映射水平的算法。该距离测量方法操作单元接收来自所述对象信息识别单元的目标对象的对象信息和根据该算法确定单元确定的结果计算距离,其中,像素和纹理的比例为1:1。该纹理映射水平选择单元基于所述距离测量方法操作单元计算出的距离选择纹理映射水平。在一个实施例中,该距离测量方法操作单元可基于纹理的大小和屏幕的大小来计算纹理的像素的大小,基于对应于三角形纹理的三个顶点的纹理坐标而计算包含在三角形中的纹理数量,基于计算出的像素大小和计算出的纹理数量来计算三角形的大小,基于对应给定的三角形的三个顶点的模型的坐标,来计算给定的三角形的大小,以及基于两个计算出的三角形的大小的值,来计算距离,其中,像素和纹理的比例设定为1:1。该纹理三角形能包括形成该纹理的单个三角形和包括二维坐标的纹理坐标。在一个实施例中,利用选择纹理映射水平的方法的该材质贴图系统进一步包括微分方法操作单元,用于从所述对象信息识别单元接收目标对象的对象信息以及根据算法确定单元的确定结果计算光线的微分值,其中,纹理映射水平选择单元可基于由微分方法操作单元计算出的微分值选择纹理映射水平。
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