[发明专利]计算缺省3D变差函数模型的系统和方法有效

专利信息
申请号: 201080067515.3 申请日: 2010-06-18
公开(公告)号: CN103154931B 公开(公告)日: 2016-11-30
发明(设计)人: 杰弗里·雅路斯;根宝·施;理查德·L·钱伯斯 申请(专利权)人: 兰德马克绘图国际公司
主分类号: G06F17/10 分类号: G06F17/10
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 张欣
地址: 美国德*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 计算 缺省 函数 模型 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种用于计算变差函数模型的方法,所述方法包括:

选择输入数据和网格数据,所述输入数据至少包括测井曲线数据和次级数据;

使用计算机处理所述输入数据,以对所述输入数据应用正态化分数转换或标准化所述输入数据;

使用i)由计算机处理之后的测井曲线数据;ii)缺省垂直单元滞积距离,以及iii)用于所述垂直实验变差函数的滞积的缺省数量,计算垂直实验变差函数;

使用i)由计算机处理之后的次级数据;ii)缺省水平单元滞积距离,以及iii)用于所述水平实验变差函数的滞积的缺省数量,计算水平实验变差函数;以及

自动匹配所述垂直实验变差函数和所述水平实验变差函数,以形成变差函数模型,所述变差函数模型表示缺省3D变差函数模型。

2.如权利要求1所述的方法,其中,若所述变差函数模型旨在用于仿真,则使用计算机处理所述输入数据,以向所述输入数据应用正态化分数转换。

3.如权利要求1所述的方法,其中,若所述变差函数模型旨在用于插值法,则使用计算机处理所述输入数据,以标准化所述输入数据。

4.如权利要求1所述的方法,其中,所述缺省垂直单元滞积距离以如下方式确定:

使用测井曲线数据计算两个邻近样本之间的距离;

收集每两个所述邻近样本之间的所述距离,以形成分布;

排除所述分布中的异常值;以及

计算所述分布的平均值,所述平均值表示缺省垂直单元滞积距离。

5.如权利要求4所述的方法,其中,使用所述缺省垂直单元滞积距离来计算用于所述垂直实验变差函数的滞积的缺省数量。

6.如权利要求1所述的方法,其中,所述缺省水平单元滞积距离以如下方式确定:

计算用于所述网格数据的网格的平均水平单元大小;以及

将所述网格的平均水平单元大小设置为所述缺省水平单元滞积距离。

7.如权利要求6所述的方法,其中,使用所述缺省水平单元滞积距离来计算用于所述水平实验变差函数的滞积的缺省数量。

8.如权利要求1所述的方法,还包括:

对所述次级数据采样,以在处理所述输入数据和计算所述水平实验变差函数之前减少所述次级数据的大小。

9.如权利要求1所述的方法,其中,计算所述垂直实验变差函数和水平实验变差函数包括:处理所述垂直实验变差函数和水平实验变差函数,以确定用于所述水平实验变差函数的主方位方向。

10.如权利要求9所述的方法,其中,处理所述水平实验变差函数包括:在所述主方向上和在垂直于所述主方向的方向上,计算所述水平实验变差函数。

11.一种程序载体装置,其具有用于计算变差函数模型的计算机可执行指令,可执行所述指令以实施:

选择输入数据和网格数据,所述输入数据至少包括测井曲线数据和次级数据;

使用计算机处理所述输入数据,以对所述输入数据应用正态化分数转换或标准化所述输入数据;

使用i)由计算机处理之后的测井曲线数据;ii)缺省竖直单元滞积距离,以及iii)用于所述垂直实验变差函数的滞积的缺省数量,计算垂直实验变差函数;

使用i)由计算机处理之后的次级数据;ii)缺省水平单元滞积距离,以及iii)用于所述水平实验变差函数的滞积的缺省数量,计算水平实验变差函数;

自动匹配所述垂直实验变差函数和所述水平实验变差函数,以形成所述变差函数模型,所述变差函数模型表示缺省3D变差函数模型。

12.如权利要求11所述的程序载体装置,其中,若所述变差函数模型旨在用于仿真,则使用计算机处理所述输入数据,以对所述输入数据应用正态化分数转换。

13.如权利要求11所述的程序载体装置,其中,若所述变差函数模型旨在用于插值法,则使用计算机处理所述输入数据,以标准化所述输入数据。

14.如权利要求11所述的程序载体装置,其中,所述缺省垂直单元滞积距离以如下方式确定:

使用测井曲线数据计算两个邻近样本之间的距离;

收集每两个所述邻近样本之间的所述距离,以形成分布;

排除所述分布中的异常值;

计算所述分布的平均值,所述平均值表示缺省竖直单元滞积距离。

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