[发明专利]硅熔体的粗脱碳方法无效
| 申请号: | 201080061936.5 | 申请日: | 2010-12-27 |
| 公开(公告)号: | CN102712484A | 公开(公告)日: | 2012-10-03 |
| 发明(设计)人: | J·欣特迈尔 | 申请(专利权)人: | 赢创德固赛有限公司 |
| 主分类号: | C01B33/037 | 分类号: | C01B33/037 |
| 代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 于辉 |
| 地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 硅熔体 脱碳 方法 | ||
1.硅熔体的粗脱碳方法,其特征在于,
将载氧体添加到硅熔体中,在所有情况下所述载氧体的添加通过保持时间被中断一次或多次,,然后再继续添加。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,
所述载氧体以固体形式添加,优选以粉末形式添加,和/或所述载氧体是二氧化硅。
3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,
通过气流,优选通过稀有气流,更优选通过氩气流将所述载氧体吹入所述硅熔体中和/或吹在所述硅熔体上。
4.如权利要求1-3中任一项所述的方法,其特征在于,
在添加所述载氧体时,所述硅熔体的温度为1500℃-2000℃,优选1600℃-1900℃,更优选1700℃-1800℃。
5.如权利要求1-4中任一项所述的方法,其特征在于,
所述载氧体的添加被中断一次或多次,优选一次,中断的保持时间为1分钟-5小时,优选1分钟-2.5小时,更优选5-60分钟。
6.如权利要求5所述的方法,其特征在于,
在0.1分钟-1小时,优选0.1分钟-30分钟,更优选0.5分钟-15分钟,尤其优选1分钟-10分钟的添加时间之后,所述载氧体的添加被中断。
7.如权利要求1-6中任一项所述的方法,其特征在于,
继续添加所述载氧体,直到所述硅熔体的总碳含量小于250ppm,优选小于200ppm,更优选小于150ppm,尤其优选10-100ppm,和/或SiC在所述硅熔体的总碳含量中的重量比例小于20%重量,优选小于10%重量,更优选小于5%重量,最优选小于1%重量。
8.如权利要求1-7中任一项所述的方法,其特征在于,
向硅熔体提供起泡剂,优选通过引入气体,更优选通过引入稀有气体,最优选通过引入氩气来实现,或者通过提供形成气体的物质,优选通过提供形成气体的固体,更优选通过提供碳酸铵粉末来实现,最优选通过将碳酸铵粉末添加到所述二氧化硅中来实现,其中基于二氧化硅和碳酸铵的混合物的质量,碳酸铵粉末的重量比例为1%-10%。
9.通过用碳还原SiO2来制备硅的方法,其特征在于,
通过如权利要求1-8中任一项所述的方法来进行硅熔体的粗脱碳。
10.如权利要求9所述的方法,其特征在于,
所述硅是太阳能硅或者半导体硅,和/或使用高纯度二氧化硅和/或高纯度碳。
11.如权利要求9或10所述的方法,其特征在于,
在所述粗脱碳之后进行细脱碳,从而将所述硅熔体的总碳含量降低至小于5ppm,优选小于3ppm,更优选小于2ppm,尤其优选降低至0.0001-1ppm。
12.如权利要求1-11中任一项所述的方法,其特征在于,
所述方法是间歇法,和/或在将所述硅熔体排出之前,将所述载氧体添加到还原炉中。
13.如权利要求1-12中任一项所述的方法,其特征在于,
所述方法是连续法,其中在排出所述硅熔体之后,在还原炉外将载氧体添加到硅熔体中。
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