[发明专利]用于半导体封装应用中的互连导电物薄膜及其相关方法无效
| 申请号: | 201080061046.4 | 申请日: | 2010-11-19 |
| 公开(公告)号: | CN102714192A | 公开(公告)日: | 2012-10-03 |
| 发明(设计)人: | B·C·奥曼;M·L·邓巴;T·何;K·库塔基斯 | 申请(专利权)人: | E.I.内穆尔杜邦公司 |
| 主分类号: | H01L23/31 | 分类号: | H01L23/31;H01L23/48 |
| 代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 朱黎明 |
| 地址: | 美国特*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 半导体 封装 应用 中的 互连 导电 薄膜 及其 相关 方法 | ||
1.互连导电物薄膜,包含由具有5-150微米厚度的基板承载的多个导电域,所述基板包含:
a)衍生自以下物质的聚酰亚胺:
i)至少一种芳族二酸酐组分,所述芳族二酸酐组分选自刚棒二酸酐、非刚棒二酸酐以及它们的组合,和
ii)至少一种芳族二胺组分,所述芳族二胺组分选自刚棒二胺、非刚棒二胺以及它们的组合;
其中基于所述聚酰亚胺的总二酸酐组分和总二胺组分计,所述二酸酐与二胺的摩尔比为48-52∶52-48,并且X∶Y的比率为20-80∶80-20,其中X为刚棒二酸酐和刚棒二胺的摩尔百分比,并且Y为非刚棒二酸酐和非刚棒二胺的摩尔百分比;和
b)亚微米级填料:
i)在至少一个尺寸上小于(数均)550纳米;
ii)具有大于3∶1的长宽比;
iii)在所有尺寸上小于所述基板厚度;并且
iv)以所述基板的10-45体积%的量存在。
2.根据权利要求1的互连导电物薄膜,其中所述亚微米级填料在至少一个尺寸上小于400纳米。
3.根据权利要求1的互连导电物薄膜,其中所述亚微米级填料在至少一个尺寸上小于200纳米。
4.根据权利要求1的互连导电物薄膜,其中所述亚微米级填料选自氧化物、氮化物、碳化物以及它们的组合。
5.根据权利要求1的互连导电物薄膜,其中所述亚微米级填料为针状二氧化钛、滑石、SiC纤维、板形Al2O3或它们的混合物。
6.根据权利要求1的互连导电物薄膜,其中
a)至少70摩尔%的芳族二酸酐组分为均苯四酸二酐;并且
b)至少70摩尔%的芳族二胺组分为4,4′-二氨基二苯醚。
7.根据权利要求6的互连导电物薄膜,其中所述亚微米级填料为针状二氧化钛、滑石、SiC纤维、板形Al2O3或它们的混合物。
8.根据权 利要求1所述的互连导电物薄膜,其中
a)至少75摩尔%的芳族二酸酐组分为均苯四酸二酐;并且
b)70摩尔%的4,4′-二氨基二苯醚和30摩尔%的1,4二氨基苯作为所述芳族二胺组分。
9.根据权利要求1的互连导电物薄膜,其中所述聚酰亚胺为嵌段共聚物。
10.根据权利要求9的互连导电物薄膜,其中所述嵌段共聚物衍生自4,4′-二氨基二苯醚和1,4二氨基苯与均苯四酸二酐和3,3′,4,4′-联苯四羧酸二酐。
11.根据权利要求9的互连导电物薄膜,其中所述嵌段共聚物衍生自:
a)10-40摩尔%的均苯四酸二酐和1,4二氨基苯嵌段;
b)90-60摩尔%的均苯四酸二酐和4,4′-二氨基二苯醚嵌段。
12.根据权利要求11的互连导电物薄膜,其中所述亚微米级填料为针状二氧化钛、滑石、SiC纤维、板形Al2O3或它们的混合物。
13.根据权利要求1的互连导电物薄膜,其中所述亚微米级填料涂覆有偶联剂、分散剂或它们的组合。
14.根据权利要求1的互连导电物薄膜,其中所述聚酰亚胺为无规共聚物,所述无规共聚物衍生自4,4′-二氨基二苯醚和1,4二氨基苯与均苯四酸二酐和3,3′,4,4′-联苯四羧酸二酐。
15.根据权利要求1的互连导电物薄膜,其中所述聚酰亚胺为无规共聚物,所述无规共聚物衍生自4,4′-二氨基二苯醚和1,4二氨基苯与均苯四酸二酐。
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