[发明专利]传感器设备的改进无效

专利信息
申请号: 201080034198.5 申请日: 2010-07-26
公开(公告)号: CN102471796A 公开(公告)日: 2012-05-23
发明(设计)人: 杰弗里·法兰克·郝尔 申请(专利权)人: 舒尔传感器有限公司
主分类号: C12Q1/00 分类号: C12Q1/00;G01N33/558
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 王敏杰
地址: 英国音*** 国省代码: 英国;GB
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摘要:
搜索关键词: 传感器 设备 改进
【权利要求书】:

1.一种测试流体中的待测被分析物水平的传感器设备,包括:

-一用于流体的流通路径;

-在所述流通路径上,用于待测被分析物的反应试剂相邻于包含第一预定量的第一校准被分析物的内标物;

并且,其中,所述反应试剂和预定量的第一校准被分析物为干燥状态。

2.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,第一校准被分析物和待测被分析物为相同的被分析物。

3.根据权利要求1或2所述的设备,其特征在于,所述反应试剂为预制的干燥形态。

4.根据上述任意一项权利要求所述的设备,其特征在于,所述反应试剂包括干燥薄膜。

5.根据权利要求3或4所述的设备,其特征在于,所述反应试剂包括水溶性干燥薄膜。

6.根据上述任意一项权利要求所述的设备,其特征在于,所述反应试剂和第一预定量的校准被分析物不接触。

7.根据上述任意一项权利要求所述的设备,其特征在于,所述反应试剂和第一预定量的第一校准被分析物在所述流通路径的同一侧。

8.根据上述任意一项权利要求所述的设备,其特征在于,在所述流通路径上,提供了相邻于反应试剂和相邻于预定量的第一校准被分析物的测试电极。

9.根据权利要求8所述的设备,其特征在于,所述测试电极、反应试剂和第一预定量的第一校准被分析物在流通路径的同一侧。

10.根据权利要求8或9所述的设备,其特征在于,至少部分所述反应试剂和至少部分所述预定量的第一校准被分析物在至少部分所述测试电极和流通路径之间。

11.根据上述任意一项权利要求所述的设备,其特征在于,所述反应试剂相邻于预定量的第一校准被分析物,因此沿流通路径流动的流体的波前大约同时到达所述用于待测被分析物的反应试剂和到达第一预定量的第一校准被分析物。

12.根据上述任意一项权利要求所述的设备,其特征在于,沿流通路径流动的流体的波前到达所述用于待测被分析物的反应试剂和到达第一预定量的第一校准被分析物所用的时间在选自如下组的时间内:大约0.75秒、大约0.5秒、大约0.25秒、大约0.2秒、大约0.1秒、大约0.05秒、大约0.025秒、大约0.02秒、大约0.01秒;

和/或

提供一种反应试剂薄膜,并且所述反应试剂薄膜具有一溶解速率,以使超过给定体积一半的薄膜或超过75%的薄膜或超过90%的薄膜,在选自如下组的时间内溶解:大约2秒、小于大约2秒、大约1.5秒、小于大约1.5秒、大约1秒、小于大约1秒、大约0.5秒、小于大约0.5秒、大约0.25秒、小于大约0.25秒、小于大约0.2秒、小于大约0.1秒。

13.根据上述任意一项权利要求所述的设备,其特征在于,所述反应试剂被设置在相邻于所述预定量的第一校准被分析物,并且彼此距离为大约0μm(此时接触)、或大约几或几十微米、或大约在5至15μm内、或10μm内、或与在大约5μm内。

14.根据上述任意一项权利要求所述的设备,其特征在于,所述流通路径包括毛细管通道用于通过毛细现象吸取流体。

15.根据上述任意一项权利要求所述的设备,包括:

-一导电层,包括至少一个测试电极;

-一校准层,包括至少第一预定量的第一校准被分析物;

-第一预定量的第一校准被分析物位于测试电极的至少部分上;

-用于待测被分析物的所述反应试剂位于所述测试电极的至少部分上,形成校准电极,所述测试电极上含有第一预定量的校准被分析物。

16.根据权利要求15所述的设备,其特征在于,其中,所述用于待测被分析物的反应试剂覆盖于校准电极上的第一预定量的第一校准被分析物的至少部分上。

17.根据权利要求15或16所述的设备,其特征在于,其中,所述反应试剂为水溶性干燥薄膜,并且所述水溶性干燥薄膜覆盖于所述校准层和/或导电层的至少部分上,以形成反应试剂层。

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