[发明专利]分析生物样品的设备有效

专利信息
申请号: 201080009279.X 申请日: 2010-02-24
公开(公告)号: CN102333855A 公开(公告)日: 2012-01-25
发明(设计)人: 保罗·加利亚诺;亚历山德罗·曼苏帝 申请(专利权)人: 亚历法克斯控股有限公司
主分类号: C12M1/34 分类号: C12M1/34;G01N21/51
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 代理人: 周靖;郑霞
地址: 意大利*** 国省代码: 意大利;IT
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摘要:
搜索关键词: 分析 生物 样品 设备
【说明书】:

发明领域

本发明涉及分析液体或固体生物样品的设备,特别地该设备测量液体培养池中的细菌培养生长,以为了进行一般细菌学和诊断性检索的目的,或对于敏感性检验出于McFarland标准化的目的测量浊度,从而对临床或普通类型的抗生素的敏感性或抗菌谱进行分析。

待分析的生物样品可以是例如尿、支气管吸出物、血液、稀释的血液或溶解的血液或其它生物样品。

发明背景

从以本申请人的名义的文件WO-A-2006/021519中,已知检测诸如血液或尿的生物样品中细菌的存在和可能地对细菌进行鉴定的分析设备。

在基于光散射的已知设备中,装备有激光发射器,其将激光光束照在包含接种有生物样品的培养液体的、由透明的玻璃或塑料制成的检验管或长颈细口瓶上。在生长过程中由悬浮液中的细菌漫射的光通过适宜的传感器来检测,所述传感器将相关信号传递到处理单元,所述处理单元确定细菌的存在,并可能地对可能存在的细菌进行分类或鉴定。

在这种类型的设备中,其已显示其自身为有效的和有利的,已出现了使所有事情对于工作人员和工作环境更紧凑和安全的需要。这是因为由于分析容器或长颈细口瓶的使用,已知设备要求大的总体体积。

这还导致了高量产生可能被感染的物质,其代表对于工作人员的风险,并需要复杂的清除过程。

并且,假如需要更大数量的分析,这种分析设备的生产率的问题是非常紧急的问题。

本发明的目的是获得允许减少操作体积和减少可能被感染的物质的产生的分析设备。

申请人已经设计、检验并实施了本发明,以克服现有技术的缺点,并获得这些和其它的目的和优点。

发明概述

本发明在独立权利要求中列出和表征,同时从属权利要求描述了本发明的其它特征或主要发明构思的变化形式。

依照以上目的,根据本发明的分析设备用来分析包含在容器中的生物样品,特别是但不仅为了进行细菌学检索以测量细菌生长从而验证细菌的存在,并可能地对其进行分类和鉴定。

根据本发明的分析设备包括能够基于光散射技术在生物样品上至少对生物样品中的细菌生长进行光学测量的检查部件。该检查部件装备有能够向生物样品的容器发射第一光束的发射器装置和能够至少检测从生物样品的容器漫射的光束并将与所述漫射的光束相关联的相关信号传送到控制单元的传感器装置,所述控制单元能够直接或间接地处理所述信号,从而至少鉴定生物样品中的细菌生长(如果有的话)。

根据本发明,容器沿确定的横平面(lying plane)来布置,且包括至少一个能够容纳至少部分生物样品的容纳微元件,且在所述容纳微元件中设有液体培养池,从而允许生物样品中的细菌生长。

在本描述的此处及此后,容纳微元件指微生物学中常用的平板或微板的孔或微孔、读取室或微室,也称作样品池(cuvette)或微样品池,或总之为相对于常规使用的长颈细口瓶或检验管具有非常有限的尺寸的容器,例如高度在3mm和20mm之间和公称直径在3mm和20mm之间。

根据本发明,发射器装置和传感器装置可每次对应于容纳微元件来定位。

传感器装置包括设置在发射器装置相对于所述横平面的同侧的第一传感器装置,和设置在发射器装置始终相对于容器的横平面的对侧的第二传感器装置。

第一传感器装置能够检测来自每次分析的确定的容纳微元件的后向散射的射线,而第二传感器装置能够检测始终来自容纳微元件的前向散射的射线。

根据本发明,从所述后向散射的射线和前向散射的射线得出相应的第一信号和第二信号,并传送到控制单元。这些信号被用来验证细菌生长和所有需要的分析。根据一个实施方案,定位发射器装置以使第一光束从上方或下方照在确定的容纳微元件上。

根据一个变化形式,发射器装置位于相对于容器的横平面垂直的位置,以使相关的第一光束基本垂直地照在容纳微元件上。

有利地,本发明的创造性特征的特定组合允许利用光散射技术对样品进行精确的分析,而无论样品的容器的尺寸或形状如何,因为发射器装置和传感器利用垂直定向的光线来运转。

根据另一个变化形式,发射器装置位于相对于容器的横平面倾斜的位置,从而相关的第一光束以相对于垂直参照方向呈非90°的角度的所需倾斜度照在容纳微元件上。

根据一个有利的实施方案,容器为微生物学中常用类型的微板(例如96孔或384孔),其沿横平面伸展,且所述容纳微元件是沿横平面成行和成列布置的相关的孔。

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