[发明专利]分析生物样品的设备

权利要求书

1.一种分析包含于容器(12)中的生物样品(11)的设备，所述设备包括检查部件(16)，所述检查部件(16)能够基于光散射技术在所述生物样品(11)上至少对所述生物样品(11)中的细菌生长进行光学测量，所述检查部件(16)装备有发射器装置(20)和传感器装置(22、24)，所述发射器装置(20)能够向所述生物样品(11)的所述容器(12)发射第一光束(B0)，所述传感器装置(22、24)能够至少检测从所述生物样品的所述容器(12)漫射的光束并能够将与所述漫射的光束相关联的相关信号(S2、S4)传送到控制单元(18)，所述控制单元(18)能够直接或间接地处理所述信号(S2、S4)以至少验证所述生物样品(11)中可能的细菌生长，所述设备的特征在于所述容器(12)沿确定的横平面(P)来布置，并包括至少一个容纳微元件(14)，所述容纳微元件(14)能够容纳所述生物样品(11)的至少部分，且在所述容纳微元件(14)中设有液体培养池从而允许所述生物样品(11)中的细菌生长，所述发射器装置(20)和所述传感器装置(22、24)能够每次对应于所述容纳微元件(14)来定位，所述传感器装置(22、24)包括被布置在所述发射器装置(20)相对于所述横平面(P)的同侧的第一传感器装置(22)、和被布置在所述发射器装置(20)相对于所述横平面(P)的对侧的第二传感器装置(24)，所述第一传感器装置(22)能够检测来自确定的容纳微元件(14)的后向散射的射线(B2)，所述第二传感器装置(24)能够检测来自确定的容纳微元件(14)的前向散射的射线(B4)，从所述后向散射的射线(B2)和所述前向散射的射线(B4)得出传送至所述控制单元(18)的相应的第一信号(S2)和第二信号(S4)。

2.如权利要求1所述的设备，所述设备的特征在于所述发射器装置(20)被放置成使得所述第一光束(B0)从上方或从下方照在所述确定的容纳微元件(14)上。

3.如权利要求1或2所述的设备，所述设备的特征在于所述发射器装置(20)相对于所述容器(12)的横平面(P)垂直放置，使得所述相关第一光束(B0)基本上垂直地照在所述容纳微元件(14)上。

4.如权利要求1或2所述的设备，所述设备的特征在于所述发射器装置(20)相对于所述容器(12)的横平面(P)倾斜放置，使得所述相关第一光束(B0)以相对于垂直方向(Y)不同于90°的所需倾斜角度(θ)照在所述容纳微元件(14)上。

5.如前述权利要求中任一项所述的设备，所述设备的特征在于所述容器是沿所述横平面(P)伸展的微板(12)，且所述微容纳元件是沿所述横平面(P)成行和成列布置的相关孔(14)。

6.如权利要求5所述的设备，所述设备的特征在于所述孔(14)的每个具有上部开口(14a)和底壁(14c)，所述上部开口(14a)用于所述第一光束(B0)和所述后向散射的射线(B2)通过，所述底壁(14c)由适宜于允许所述前向散射的射线(B4)通过的材料制成。

7.如权利要求5或6所述的设备，所述设备的特征在于所述孔(14)的每个具有侧壁(14b)，所述侧壁(14b)被遮蔽从而阻碍光的侧向漫射以不干扰其它相邻的孔(14)。

8.如前述权利要求中任一项所述的设备，所述设备的特征在于所述平板或微板(12)由聚苯乙烯或甲基丙烯酸酯制成。

9.如前述权利要求中任一项所述的设备，所述设备的特征在于所述第一传感器装置(22)和所述第二传感器装置(24)各自以相对于确定的垂直方向(Y)以大约-90°和+90°之间所包括的确定的角度(α、β)来放置。

10.基于光散射技术的检查部件(16)用于如前述权利要求中任一项所述的设备中，以检测来自容纳液体培养池中的悬浮液中的生物样品(11)的容纳微元件(14)的一侧的后向散射的射线和来自所述容纳微元件(14)的对侧的前向散射的射线，从而至少测量容纳于所述容纳微元件(14)中的所述生物样品(11)的细菌生长的用途。

11.一种分析包含于容器(12)中的生物样品(11)的方法，所述容器(12)沿确定的横平面(P)来布置并包括至少一个能够容纳所述生物样品(11)的至少部分的容纳微元件(14)，且所述容纳微元件(14)中设有液体培养池从而允许所述生物样品(11)中的细菌生长，所述方法提供检查步骤，在所述检查步骤中基于光散射技术至少对所述生物样品(11)中的细菌生长进行光学测量，所述测量通过向所述生物样品(11)的所述容器(12)发射第一光束(B0)、通过至少检测从所述生物样品(11)的所述容器(12)漫射的光束、并通过直接或间接地处理与所述漫射的光束相关联的信号(S2、S4)来进行，所述方法的特征在于其提供在相对于与所述容纳微元件(14)相关的所述横平面(P)的、所述第一光束(B0)发射自的同侧检测来自确定的容纳微元件(14)的后向散射的射线(B2)，和从相对于与所述容纳微元件(14)相关的所述横平面(P)的对侧检测来自所述确定的容纳微元件(14)的前向散射的射线(B4)，从所述后向散射的射线(B2)和前向散射的射线(B4)得出所述信号(S2、S4)。