[发明专利]用于利用电子元件来填充载带的方法和设备

权利要求书

1.一种用于利用电子元件（12）来填充载带（10）以及用于从所述载带移除并替换有缺陷的电子元件（13）的方法，其中通过转台（1）在多个处理站和所述填充站之间传送所述电子元件（12，13），

所述方法包括步骤：

在填充站（1）处，在所述载带（10）的凹腔（11）中装载电子元件，

向前移动所述载带（10），

自动检测所述电子元件是有缺陷的，

当已经检测到有缺陷的元件（13）时，在第一方向上旋转所述转台（1），向后移动所述载带，从所述载带（10）卸载有缺陷的电子元件（13），在与所述第一方向相反的第二方向上旋转所述转台，以及在所述填充站（1）处利用新电子元件来填充所述凹腔。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述相同填充站（1）和电子元件的相同源用于装载所述有缺陷的元件（13）和所述新元件。

3.根据权利要求1所述的方法，其中当已经检测到有缺陷的电子元件（13）时，所述转台（1）在所述第一和第二方向上旋转少于一步。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其中独立于所述填充站而利用真空系统（18）来卸载所述有缺陷的元件（1）。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其中所述载带（10）在已经装载了新元件之后向前移动。

6.根据权利要求5所述的方法，其中所述载带（10）在已经装载新电子元件（12）之后向前移动到其初始位置。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的方法，包括步骤：在已经将所述新电子元件（12）装载到所述载带（10）中之后检验所述新电子元件（12），并且如果所述新元件是有缺陷的，则移除所述新元件。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的方法，其中自动检测所述电子元件（13）是有缺陷的所述步骤包括执行对所述电子元件的视觉检验。

9.根据权利要求1至7中任一项所述的方法，其中自动检测所述电子元件是有缺陷的所述步骤包括例如使用标志来执行对所述电子元件的机械检验。

10.根据权利要求1至7中任一项所述的方法，其中自动检测所述电子元件（13）是有缺陷的所述步骤包括使用第一机械检验系统来检测突出于凹腔的电子元件以及使用第二光学系统来执行对凹腔中的所述电子元件的视觉检验。

11.根据权利要求10所述的方法，其中向后移动的长度取决于检测到有缺陷元件的检验站。

12.根据权利要求1至11中任一项所述的方法，其中对有缺陷的电子元件的所述检测检测未对齐、翻转、颠倒或倾斜的电子元件，即使那些电子元件正适当地工作。

13.一种用于利用电子元件（12，13）来填充载带（10）以及用于从所述载带移除并替换有缺陷的电子元件（13）的设备，包括

填充站（1），在所述填充站（1）处利用元件夹持器（17）将电子元件装载到所述载带（10）的凹腔（11）中，

马达，用于向后以及向前移动所述载带（10），

检验系统（15），用于自动地检测所述电子元件（13）是有缺陷的，

与所述元件夹持器（17）不同的卸载系统（18），用于在所述填充站处从所述载带（10）移除有缺陷的电子元件（13）。

14.根据权利要求13所述的设备，还包括：机动化装置，用于在所述填充站处由所述卸载系统（18）替换所述元件夹持器（17）。

15.根据权利要求14所述的设备，所述检验系统是用于自动地检测所述载带中的有缺陷的电子元件的视觉检验系统（15）。

16.根据权利要求15所述的设备，所述检验系统还包括用于自动地检测所述载带中的有缺陷的电子元件的机械检验系统。