[发明专利]印刷电路板的测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种使用测试设备测试电路板的方法；更具体地，本发明涉及一种以连续性量测针对断路与短路测试未组装的电路板的方法。

背景技术

“连续性量测”一词中所述的量测是指藉由使两个接触点接触，并施加一量测电流或量测电压，接着量测所得电压或所得电流来量测一个或多个导体路径的两个接触点间的电阻。导体路径的接触点后续称为电路板测试点。导体路径中的断路是藉由使导体路径在两个电路板测试点接触，并检测预定的最小电阻来检测。两个邻接的导体路径间的短路是藉由在所有情况下接触两个导体路径其中之一的一个电路板测试点，并量测低于预定阈值的电阻来检测。

用于测试电路板的测试设备可划分为两个基本群组：指状测试器(飞针测试器)群组和并行测试器群组。并行测试器为一种测试设备，其经由一适配器而能够同时接触一待测试的电路板的所有或至少大部分的接触点。指状测试器为用于测试未组装或组装的电路板的测试设备，其中个别的接触点是藉由两个或多个试验指循序扫描。

在EP 0 468 153 A1中描述一指状测试器，且在EP 0 853 242 A1中描述一使用指状测试器测试电路板的方法。

典型的并行测试器从US 3,564,408和US 4,417,204、DE 32 40 916 C2、DE 3340 180 C1、德国新型专利DE 88 06 064 U1、EP 0 875 767 A2、WO 02/31516与EP 1 322 967 B1以及EP 1 083 434 A2和US 6,445,173B1可获知。

DE 88 06 064 U1公开一测试设备，其中并行测试器的接触元件是由刚性管脚组成，当接触电路板时，该刚性管脚以一角度倾斜，且该电路板中的接触点是布置在网格外侧。在电路板中的所有接触点皆布置在一预定的规则网格中的情况下，当然不必让刚性管脚以一角度倾斜。

亦作出一些尝试来消除并行测试器和指状测试器之间的区别，并创造一类型的通用并行测试器，其将涉及克服并行测试器必须针对各类型电路板提供独立适配器的缺点，同时保留其高测试率的优点。

WO 97/23784公开一测试设备，其在待测试的试样的每一侧上具有至少两个可相对彼此移动的共面的针板。这些针板设有多个测试针，各自可用于接触待测试的导体路径的一接触点。两个针板可以同时可接触导体路径的特定接触点、同时亦可通过针板的多个接触点同时接触多个导体路径的方式相对电路板移动。每一针板的接触针可独立地致动，以便一接触板仅有选定的接触针与个别的待测试的电路板接触。

WO 99/23496公开一用于测试电路板的测试设备，其具有多个布置在支撑元件上、并可选择性地在支撑元件上沿待测试的电路板方向移动的接触元件。个别的接触元件可因此独立地驱动。支撑元件可在平行于待测试的电路板的平面中移动，以便待测试的电路板的每一接触点可以接触至少一个接触元件。

虽然一般公认上述两个测试设备确实结合并行测试器和指状测试器的优点，但由于独立控制不同的接触元件非常耗时费力，其尚未在实务上成功地获得证实。一方面，此种类的设备是昂贵的，另一方面，其易于故障且因此需要密集地维修。此外，因为其独立地受控，各自的接触元件彼此是以相对大的间隙布置，以致于这类设备对当前的电路板而言仅具有有限的用途。

从DE 40 12 839 B4可知一种测试电路板的方法，其使用一导体结构，其具有布置在一紧密网格中的扫描点，以致在试样的表面上获得该导体结构的影像。

EP 1 022 572 B1和EP 1 312 930 B1公开这样的测试设备，其中接触电刷在电路板的表面上移动，从而与个别的接触点产生电接触。在此过程中，会量测电值并与预定值相比较。此允许针对待测试的电路板的后续详细电测试排除某些接触点。