[发明专利]荧光检测装置和荧光检测方法无效

专利信息
申请号: 201080003854.5 申请日: 2010-01-15
公开(公告)号: CN102272575A 公开(公告)日: 2011-12-07
发明(设计)人: 星岛一辉 申请(专利权)人: 三井造船株式会社
主分类号: G01N15/14 分类号: G01N15/14;G01N21/64;G01N21/78
代理公司: 北京万慧达知识产权代理有限公司 11111 代理人: 邬玥;张一军
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 荧光 检测 装置 方法
【说明书】:

技术领域

本发明涉及一种荧光检测装置和荧光检测方法,其中,接收测量对象物受到激光照射后所发出的荧光,并对此时所得到的多个荧光信号进行信号处理。

背景技术

在医疗、生物领域广泛应用下述的流式细胞仪:该流式细胞仪采用光电倍增管或雪崩光电二极管等光电转换器接收测量对象物被激光照射后发出的荧光,由此分析出细胞或基因等测量对象物的种类、频率和特性。

具体来说,流式细胞仪中,采用荧光试剂使悬浮液中含有细胞、DNA、RNA、酶、蛋白等活体物质等的测量对象物标签化,然后施加压力以使测量对象物流动在以每秒10m以下程度的速度在管道内进行流动的鞘液中,由此形成分层鞘流。流式细胞仪通过朝向该流动中的测量对象物照射激光,接收附着在测量对象物上的荧光色素所发出的荧光,并将该荧光作为标签进行识别,由此特定活体物质等。

在该流式细胞仪中,例如能够测量出细胞内的DNA、RNA、酶、蛋白质等在细胞内的相对量,且在短时间内能够对这些物质的作用进行分析。另外,可使用通过荧光对特定类型的细胞或染色体进行特定、并仅在特定的细胞或染色体以活着的状态下短时间内进行分选收集的细胞分类器等。

在上述仪器的使用中,要求在短时间内根据荧光信息对更多的测量对象物进行正确地特定。

例如,对细胞或人工制造的微球等样品进行测量时,需要测量的信息即为标记于样品上的荧光色素的荧光信息(荧光色或荧光强度)。然而,被照射的激光而发出的荧光不仅仅是用以标记的荧光色素所发出的荧光,还包括细胞或微球等样品自身所发出的荧光,或者用以悬浮这些样品的缓冲液自身所发出的荧光。这些样品自身或缓冲液所发出的荧光波段较宽,且多数情况下该荧光波段与荧光色素发出的荧光波段相重叠,因此样品自身或缓冲液所发出的荧光是需要除去的自发荧光。

自发荧光与荧光色素发出的荧光相比,其荧光强度通常极其弱,但根据不同情况具有较强的荧光强度。此时,如果自发荧光的荧光强度仍然十分弱于荧光色素发出的荧光,则能够用充分的SN比测量出荧光色素发出的荧光。然而,当荧光色素所发出的荧光的荧光强度不足够强时,SN比下降,导致难以对该荧光进行测量。即使在自发荧光较弱的情况下,若荧光色素发出的荧光同样较弱,则发生相同的问题。

下述专利文献1中记载有以下的荧光强度计算方法。

即,朝向标记样品照射以规定频率对激光强度进行时间调制的激光,并用具有不同接收波段的多个检测传感器来接收此时标记样品所发出的荧光,由此从各个检测传感器中收集含有相位信息的检测值。然后,利用标记样品被激光照射后发出的荧光做出一次滞后系统的弛豫响应时的传递函数参数制作出校正变换矩阵。将从各检测传感器收集到的、包括相位信息的检测值的组作为矢量,且使根据所制成的校正变换矩阵而制成的逆矩阵作用在该矢量上,以便求出标记样品发出的荧光的荧光强度。

专利文献1:日本特开2007-127415号公报

在上述方法中,虽然能够计算出正确的荧光强度,但由于必须根据所制作出的校正转换矩阵计算出该矩阵的逆矩阵,因此难以迅速且容易地求出荧光强度。

发明内容

因此,本发明为了解决上述问题点,其目的在于:提供一种荧光检测装置和荧光检测方法,其中,接收测量对象通过激光照射而发出的荧光并对此时所得到的荧光信号进行信号处理时,能够迅速且容易地求出荧光强度。

本发明实施方式的荧光检测装置,其接收测量对象物受到激光照射后所发出的荧光,并对所接收的荧光的荧光信号进行信号处理,该荧光检测装置包括:

(A)光源部,以设定好的频率对具有使测量对象物激发后发出荧光的波长的激光进行强度调制,并将其作为测量对象物的照射光进行发射;

(B)受光部,包括:第一受光元件,在与第一荧光相对应的方式进行设定的第一波段接收所述第一荧光,且输出第一荧光信号;第二受光元件,在与所述第一波段不同的第二波段接收测量对象物所发出的第二荧光并输出第二荧光信号,以按照测量对象物被照射光照射后发出的第一荧光强度高于测量对象物被激光照射后发出的第二荧光强度;

(C)第一处理部,使输出的所述第一荧光信号与以所述频率对激光进行强度调制的调制信号进行混合,由此生成包括相对于所述调制信号的相位滞后和强度振幅的所述第一荧光信号的第一荧光数据,同时对输出的所述第二荧光信号和所述调制信号进行混合,由此生成包括相对于所述调制信号的相位滞后和强度振幅的所述第二荧光信号的第二荧光数据;

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