[发明专利]荧光检测装置和荧光检测方法

权利要求书

1.一种荧光检测装置，接收测量对象物受到激光照射后所发出的荧光，并对所接收的荧光的荧光信号进行信号处理，其特征在于，包括：

光源部，以设定好的频率对具有使测量对象物激发后发出荧光的波长的激光进行强度调制，并将其作为测量对象物的照射光进行发射；

受光部，包括：第一受光元件，按照测量对象物被照射光照射后发出的第一荧光强度高于测量对象物被激光照射后发出的第二荧光强度的方式在与所述第一荧光相对应地进行设定的第一波段接收所述第一荧光，并输出第一荧光信号；第二受光元件，在与所述第一波段不同的第二波段接收测量对象物发出的第二荧光并输出第二荧光信号；

第一处理部，其中，通过将被输出的所述第一荧光信号与以所述频率对激光进行强度调制的调制信号进行混合，由此生成包括所述第一荧光信号的、相对于所述调制信号的相位滞后和强度振幅的第一荧光数据，且通过对被输出的所述第二荧光信号与所述调制信号进行混合，由此生成包括所述第二荧光信号的、相对于所述调制信号的相位滞后和强度振幅的第二荧光数据；

第二处理部，包括：荧光除去部，从所述第一荧光数据中减去将所生成的所述第二荧光数据与预先规定的常数相乘后得到的结果，由此生成第三荧光数据；荧光强度计算部，利用所生成的所述第三荧光数据计算出所述第一荧光的荧光强度。

2.如权利要求1所述的荧光检测装置，其特征在于，所述测量对象物按照在测量对象粒子上附着有荧光色素的方式构成；

所述第一荧光是所述荧光色素发出的荧光；

所述第二荧光是所述测量对象粒子发出的自发荧光，或者是悬浮有所述测量对象粒子的溶液发出的荧光。

3.如权利要求2所述的荧光检测装置，其特征在于，所述第二波段被设定在不包括所述第一荧光所具有的波长范围的区域。

4.如权利要求2或3所述的荧光检测装置，其特征在于，

用于所述荧光除去部的所述常数是针对不附着有荧光色素的测量对象粒子利用所述光源部、所述受光部和所述第一处理部而得到的、测量对象粒子发出的自发荧光的所述第一波段中的荧光数据除以测量对象粒子发出的自发荧光的所述第二波段中的荧光数据后得到的比值。

5.如权利要求1～4中任一项所述的荧光检测装置，其特征在于，所述第二处理部包括荧光弛豫计算部，其除了荧光强度以外，还利用所述第三荧光数据计算出所述第一荧光的荧光弛豫时间。

6.一种荧光检测方法，接收测量对象物受到激光照射后所发出的荧光，并对所接收的荧光的荧光信号进行信号处理，其特征在于，包括下述步骤：

以设定好的频率对具有使测量对象物激发后发出荧光的波长的激光进行强度调制，并将其作为测量对象物的照射光进行发射；

按照测量对象物被照射光照射后发出的第一荧光强度高于测量对象物被激光照射后发出的第二荧光强度的方式在与所述第一荧光相对应地设定的第一波段接收所述第一荧光，并生成第一荧光信号，且在与所述第一波段不同的第二波段接收测量对象物发出的第二荧光，并生成第二荧光信号；

使所生成的所述第一荧光信号与以所述频率对激光进行强度调制的调制信号进行混合，由此生成包括所述第一荧光信号的、相对于所述调制信号的相位滞后和强度振幅的第一荧光数据，且对所生成的所述第二荧光信号与所述调制信号进行混合，由此生成包括所述第二荧光信号的、相对于所述调制信号的相位滞后和强度振幅的第二荧光数据；

从所述第一荧光数据中减去将所生成的所述第二荧光数据与预先规定的常数相乘而得到的结果，由此生成第三荧光数据，利用所生成的所述第三荧光数据计算出所述第一荧光的荧光强度。

7.如权利要求6所述的荧光检测方法，其特征在于，所述测量对象物按照在测量对象粒子上附着有荧光素色的方式构成；

所述第一荧光是所述荧光色素发出的荧光；

所述第二荧光是所述测量对象粒子发出的自发荧光，或者是悬浮有所述测量对象粒子的溶液发出的荧光。

8.如权利要求7所述的荧光检测方法，其特征在于，所述第二波段被设定在不包括所述第一荧光所具有的波长范围的区域。