[发明专利]有机EL显示装置的显示方法和有机EL显示装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种有机EL(电致发光)显示装置的显示方法和有机EL显示装置。

背景技术

作为使用了电流驱动型的发光元件的图像显示装置，使用了有机EL元件(OLED：Organic Light Emitting Diode)的图像显示装置(有机EL显示器)为公众所知。该有机EL显示器具有视角特性良好、功耗少的优点，因此作为下一代的FPD(Flat Panal Display，平板显示器)的候选而受到关注。

在有机EL显示器中，通常构成像素的有机EL元件被配置成矩阵状。在多个行电极(扫描线)和多个列电极(数据线)的交点设置有机EL元件、以在选择出的行电极和多个列电极之间施加与数据信号相当的电压的方式驱动有机EL元件的有机EL显示器被称为无源矩阵型有机EL显示器。

另一方面，在多条扫描线和多条数据线的交点设置薄膜晶体管(TFT：Thin Film Transistor)，在该TFT上连接驱动晶体管的栅极，通过选择出的扫描线使该TFT导通，从数据线将数据信号输入到驱动晶体管，通过该驱动晶体管驱动有机EL元件的有机EL显示器被称为有源矩阵型有机EL显示器。

与仅在选择各行电极(扫描线)的期间、连接于该行电极的有机EL元件进行发光的无源矩阵型有机EL显示器不同，在有源矩阵型有机EL显示器中，能够使有机EL元件发光到下一次扫描(选择)，因此，即使扫描线数量上升也不会导致显示器的辉度(brightness)减少。因此，能够以低电压进行驱动，所以能够实现低功耗化。但是，在有源矩阵型有机EL显示器中，由于在制造工序中产生的驱动晶体管和/或有机EL元件的特性不匀，有时即使提供相同的数据信号，在各像素中有机EL元件的辉度也会不同，将会产生条纹、斑块等的辉度不匀。

针对此问题提出了如下的修正方法，即：对于在有机EL显示器中产生的条纹、斑块，通过对图像信号(数据信号)进行修正，从而将与供给至各像素的图像信号对应的有机EL元件的辉度修正为预定的基准辉度(例如，专利文献1)。

在专利文献1的修正方法中，通过对有机EL显示器的每个像素至少进行3个灰度等级以上的辉度分布或电流分布的测定，从而能够求出用于将与供给至各像素的图像信号对应的有机EL元件的辉度修正为预定的基准辉度的修正参数、即增益和偏移量(offset)。

在先技术文献

专利文献1：日本特开2004-101143号公报

发明内容

但是，在以往的修正方法中，存在以下说明的问题。

以往，作为修正参数的计算方法，例如具有使用最小二乘法求出作为修正参数的增益和偏移量的方法。在使用该最小二乘法的方法中，针对各像素进行多个灰度等级的辉度测定，基于在各测定中取得的各像素的辉度与代表电压-辉度特性的辉度差，通过预定的运算方法求出增益和偏移量。作为一例，如图1所示，针对某像素测定电压V1～V6这6点的辉度L1～L6，作为修正参数而求出Vx1～Vx6。

但是，在使用例如最小二乘法的修正方法中，其性质上需要以至少3个灰度等级以上、优选5个灰度等级以上的灰度等级数进行各像素的辉度测定，存在从进行各像素的辉度测定到求出修正参数为止要花费时间的问题。特别是，在低灰度等级侧的辉度测定中需要特别长的时间。其结果，会产生从进行各像素的辉度测定到求出修正参数为止的测定节拍(tact)变长的问题。

另外，在有机EL显示器中，具有在低灰度等级下容易产生条纹状的辉度不均等的性质。对于人眼而言，低灰度等级侧的辉度差比高灰度等级侧的辉度差更容易识别。因此，最好是低灰度等级侧的修正精度高于高灰度等级侧的修正精度。但是，通常情况下，代表电压-辉度特性与各像素的电压-辉度特性的辉度差越是在高灰度等级侧就越大，在最小二乘法中，以使该高灰度等级侧的辉度差变为最小的方式通过运算同时求出增益和偏移量，因此虽然能够减小高灰度等级侧的修正误差，但是也还是会出现低灰度等级侧的修正误差与高灰度等级侧的修正误差相比变大的问题。

本发明是鉴于上述情况而做出的发明，其目的在于提供一种有机EL显示装置的显示方法和有机EL显示装置，其能够缩短从进行各像素的辉度测定到求出修正参数为止的测定节拍。