[实用新型]面板缺陷测量尺

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测量尺，尤其涉及一种测量有机发光显示器的面板缺陷的测量尺。

背景技术

有机发光显示器(OLED)的面板缺陷测量一般需要测量一下几项：(1)测量切割后的的OLED显示屏基片玻璃棱角处缺陷大小；(2)测量切割后的OLED显示屏后盖玻璃棱角处缺陷大小；(3)测量OLED显示屏基片玻璃与IC(驱动模块)绑定的边沿处缺陷大小；(4)测量OLED显示屏基片玻璃另外3边沿处的缺陷大小；(5)测量OLED显示屏基片与后盖玻璃粘合时UV胶线压合后的宽度；(6)测量基片及后盖玻璃的表面缺陷大小(主要为凹坑)；(7)测量OLED显示屏偏光片的缺陷大小。传统工序中测量时，往往采用普通的测量工具(如米尺、量角器等)，通过测量基片玻璃、后盖玻璃和偏光片上的缺陷的长和宽，看其长与宽是否在规定的标准缺陷允许范围内，从而判断给有机发光显示器的面板是否合格。

然而，使用普通测量工具测量有机发光显示器(OLED显示器)的面板缺陷，每次测量时均需核对标准数据，而且测量并不方便，测量步骤多、人为误差大。因此，急需一种使用方便、人为误差小的面板缺陷测量工具。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种使用方便、人为误差小的面板缺陷测量尺。

为了实现上有目的，本实用新型公开了一种面板缺陷测量尺，用于有机发光显示器的面板缺陷测量，所述面板缺陷测量尺的尺面上标示有有机发光显示器面板的缺陷图样，所述缺陷图样包括测量切割后的基片玻璃棱角处缺陷的第一缺陷图样、测量切割后的后盖玻璃棱角处缺陷的第二缺陷图样、测量基片玻璃与驱动模块绑定的边沿处缺陷的第三缺陷图样、测量基片玻璃未切割的边沿处缺陷的第四缺陷图样、测量基片与后盖玻璃粘合时胶线压合后宽度的长度图样、测量基片和后盖玻璃的表面缺陷的第五缺陷图样，以及测量有机发光显示器的显示屏偏光片缺陷的第六缺陷图样。

较佳地，所述缺陷图样由一组透明缺陷图样和一组阴暗缺陷图样组成。采用透明的和不透明的两组图样作为缺陷图样，可以更好的、更加直观的测量OLED面板的缺陷。

较佳地，所述第一缺陷图样呈长为2毫米，宽为1.5毫米的长方形；所述第二缺陷图样呈长为2毫米，宽为1.5毫米的长方形；所述第三缺陷图样呈长为3毫米，宽为0.5毫米的长方形；所述第四缺陷图样呈长为4毫米，宽为1毫米的长方形；所述长度图样呈长为1.4毫米的带状；所述第五缺陷图样由三个并行排列的直径分别为0.5毫米、1.0毫米和1.5毫米的圆形组成；所述第六缺陷图样由五个并行排列的直径分别为0.05毫米、0.1毫米、0.15毫米、0.2毫米和0.3毫米的圆形组成。上述缺陷图样的规格大小是通过对OLED生产过程中实验数据的分析总结得到的，使用上述缺陷图样可以准确的测量处OLED显示器面板是否可用。

较佳地，所述面板缺陷测量尺的边缘标示有刻度。使得本实用新型具有常用的长度尺的功能，可以适用于多种场合，更加全面的测量面板的缺陷。

较佳地，所述面板缺陷测量尺包括角度尺。在面板缺陷测量尺的尺面上标示有角度尺，使得本实用新型具有测量角度功能，可以适用于多种场合，更加全面的测量面板的缺陷。

本实用新型面板缺陷测量尺上标示有机发光显示器面板的缺陷图样，所述缺陷图样是本领域技术人员通过对OLED生产过程中实验数据的分析总结设置的，测量面板缺陷时，直接将面板上的缺陷与面板缺陷测量尺上对应的缺陷图样比对，若该缺陷的投影的边界超出缺陷图样的区域，则该OLED显示屏不可用，反之合格。与现有技术中使用长度尺和角度尺等普通测量工具相比，本实用新型实现OLED显示器面板缺陷测量的专业化，其操作简单，人为误差小。

附图说明

图1是本实用新型面板缺陷测量尺的示意图。

图2是图1中A部分的放大示意图。

图3是图1中B部分的放大示意图。

图4是待测基片玻璃的缺陷示意图。

图5a-图5b是使用本实用新型测量缺陷的示意图。

具体实施方式

为详细说明本实用新型的技术内容、构造特征、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图详予说明。

参考图1，本实用新型面板缺陷测量尺100采用透明材料制成，其边缘处表示有刻度，右上角处标示有角度尺(Angle meter)10，与现有技术相比，本实用新型面板缺陷测量尺100的尺面上标示有有机发光显示器(OLED显示器)面板的缺陷图样。