[实用新型]面板缺陷测量尺无效

专利信息
申请号: 201020636482.7 申请日: 2010-12-01
公开(公告)号: CN201917282U 公开(公告)日: 2011-08-03
发明(设计)人: 杨明生;范继良;刘惠森;王学敬;王曼媛;王勇 申请(专利权)人: 东莞宏威数码机械有限公司
主分类号: G01B3/04 分类号: G01B3/04;G01B3/14
代理公司: 广州三环专利代理有限公司 44202 代理人: 张艳美;郝传鑫
地址: 523000 广东省东莞市南城*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 面板 缺陷 测量
【权利要求书】:

1.一种面板缺陷测量尺,用于有机发光显示器的面板缺陷测量,其特征在于:所述面板缺陷测量尺的尺面上标示有有机发光显示器面板的缺陷图样,所述缺陷图样包括测量切割后的基片玻璃棱角处缺陷的第一缺陷图样、测量切割后的后盖玻璃棱角处缺陷的第二缺陷图样、测量基片玻璃与驱动模块绑定的边沿处缺陷的第三缺陷图样、测量基片玻璃未切割的边沿处缺陷的第四缺陷图样、测量基片与后盖玻璃粘合时胶线压合后宽度的长度图样、测量基片和后盖玻璃的表面缺陷的第五缺陷图样,以及测量有机发光显示器的显示屏偏光片缺陷的第六缺陷图样。

2.如权利要求1所述的面板缺陷测量尺,其特征在于:所述缺陷图样由一组透明缺陷图样和一组阴暗缺陷图样组成。

3.如权利要求1所述的面板缺陷测量尺,其特征在于:所述第一缺陷图样呈长2毫米,宽1.5毫米的长方形;所述第二缺陷图样呈长2毫米,宽1.5毫米的长方形;所述第三缺陷图样呈长3毫米,宽0.5毫米的长方形;所述第四缺陷图样呈长4毫米,宽1毫米的长方形;所述长度图样呈长1.4毫米的带状;所述第五缺陷图样由三个并行排列的直径分别为0.5毫米、1.0毫米和1.5毫米的圆形组成;所述第六缺陷图样由五个并行排列的直径分别为0.05毫米、0.1毫米、0.15毫米、0.2毫米和0.3毫米的圆形组成。

4.如权利要求1所述的面板缺陷测量尺,其特征在于:所述面板缺陷测量尺的边缘标示有刻度。

5.如权利要求1所述的面板缺陷测量尺,其特征在于:所述面板缺陷测量尺包括角度尺。

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