[实用新型]一种检测零件尺寸的装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及检测零件尺寸的装置。

背景技术

机械零件的技术要求很多, 它有几何形状、尺寸公差、形位公差、表面粗糙度、材质的化学成份及硬度等。检测时先从何处着手, 用哪些量具, 采用什么样的先进方法, 是检测中技术性很强的一个问题。检测过程中, 影响所得的数据准确性的因素非常多。检测误差可以分为三大类：随机误差、粗大误差、系统误差。 消除随机误差的方法主要是从误差根源予以消除(减小温度波动、控制检测力等) , 还可以按照正态分布概率估算随机误差的大小。含有粗大误差的检测值叫做坏值, 应该剔除不用。系统误差。在相同条件下, 重复检测同一量时误差的大小和方向保持不变, 或者检测时条件改变, 误差按照一定的规律变化, 这种误差为系统误差。消除系统误差方法有, 检测前必须对所有计量器具进行检定, 提高计量器具的检测精度。

传统检测零件尺寸在检测过程中需要先定位一个基准面，通过比对或相对检测得出所测工件的数据，但是由于基准面的不平或者表面粗糙等原因，相比说来检测出的数值误差较大。

发明内容

针对上述问题，本实用新型的目的是提供一种检测零件尺寸的装置，能够减小检测零件尺寸过程中的系统误差。

为了解决上述难题，本实用新型采取的方案是：一种检测零件尺寸的装置，包括放置零件的平台，它还包括沿Z轴方向排列的上探头和下探头、用于采集X轴向数据的X轴向光栅尺、采集Y轴向数据的Y轴向光栅尺、采集Z轴向数据的Z轴向光栅尺，上探头和下探头安装在一支架上，支架可沿Z轴方向移动地设置于一Z轴向导轨上，Z轴向导轨可沿X轴方向移动地设置于一X轴向导轨上，X轴向导轨可沿Y轴方向移动地设置于一Y轴向导轨上。

优选地，平台上设置有用于调整零件位置的调整装置。

优选地，平台上设置有用于夹紧零件的夹具。

优选地，检测零件尺寸的装置还包括用于驱动探头移动的伺服机，伺服机包括用于驱动上探头和下探头X轴向移动的X轴向伺服机、用于驱动上探头和下探头Y轴向移动的Y轴向伺服机和用于驱动上探头和下探头Z轴向移动的Z轴向伺服机。

优选地，检测零件尺寸的装置还包括用于收集光栅数据的采集器。

优选地，检测零件尺寸的装置还包括用于分析和处理光栅数据的处理器

优选地，检测零件尺寸的装置还包括用于输出数据的输出装置。

更优选地，输出装置为显示屏幕。

优选地，上探头和下探头为激光光纤探测头。

本实用新型采用以上方法，具有以下优点：

1、检测零件尺寸过程中的容易产生的系统误差；

2、检测工艺简单，能够快速检测零件尺寸，提高生产效率。

附图说明

附图1为本实用新型实施例的检测装置的结构示意图。

附图2为本实用新型实施例的零件处于检测状态时的第一俯视图。

附图3为本实用新型实施例的零件处于检测状态时的第二俯视图。

附图4为本实用新型实施例的零件处于检测状态时的第一侧视图。

附图5为本实用新型实施例的零件处于检测状态时的第二侧视图。

以上附图中：1、平台；2、上探头；3、第二探头；4、支架；5、第一临界点；6、第二临界点；7、第三临界点；8、第四临界点。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型的较佳实施例进行详细阐述，以使本实用新型的优点和特征能更易于被本领域的技术人员理解，从而对本实用新型的保护范围作出更为清楚明确的界定。

在通过探测头探测其与零件之间的Z轴方向的距离以计算零件高度时，两个探测头沿Z轴方向移动，通过在移动过程中探测头多次探测到的信号的返回量分别计算两个探测头与零件之间的Z轴方向的距离，并通过平均值计算零件的高度。

如图1-5所示的实施例，一种检测零件尺寸的装置，包括放置零件的平台1，平台1上设置有用于调整零件位置的调整装置和用于夹紧零件的夹具，它还包括沿Z轴方向排列的上探头2和下探头3、用于采集X轴向数据的X轴向光栅尺、采集Y轴向数据的Y轴向光栅尺、采集Z轴向数据的Z轴向光栅尺，上探头和下探头安装在一支架4上，支架可沿Z轴方向移动地设置于一Z轴向导轨上，Z轴向导轨可沿X轴方向移动地设置于一X轴向导轨上，X轴向导轨可沿Y轴方向移动地设置于一Y轴向导轨上。

 检测零件尺寸的装置还包括用于驱动探头移动的伺服机，伺服机包括用于驱动上探头和下探头X轴向移动的X轴向伺服机、用于驱动上探头和下探头Y轴向移动的Y轴向伺服机和用于驱动上探头和下探头Z轴向移动的Z轴向伺服机。