[实用新型]GIP面板的测试结构

说明书

技术领域

本实用新型是关于一种测试面板的架构，特别是针对具有双边栅极驱动的GIP面板的测试架构，可降低面板的测试成本。 

背景技术

为了降低显示器面板的成本，面板制造商逐渐将面板上的栅极驱动电路直接作在面板上，因此在组装面板时不需要再额外购买栅极驱动IC。此种不需要栅极驱动IC的面板称之为GIP(gate in panel)面板，或称为无栅极(gateless)面板。一般较大尺寸或解度较高的GIP面板，其面板上的栅极驱动电路会作在面板基板的左右两侧，分别可驱动面板上的奇数栅极线与偶数栅极线，或者，此左右两侧的驱动电路各驱动面板上左右各半边的栅极线。 

传统上，在测试此种GIP面板100时，其测试流程如图1所示，先驱动左侧的奇数栅极线，以测试面板中一半的像素101，然后再驱动右侧的偶数栅极线，以测试面板中另一半的像素102，最后再整合这两半的像素数据以得到完整的面板点缺分布103。 

此种传统的方式若要同时驱动左右两侧的栅极驱动电路，则需要两套的测试设备，尤其是测试设备中的测试信号产生器。在大量生产的情况之下，测试每一面板需要两个测试信号产生器，使得测试极为不经济。若是只使用一个测试信号产生器，则必须在测完一半的面板像素后，拆卸测试设备，然后再测试另一半的像素；如此的做法，将使执行测试的时间变长，故不论以上述的何种方式，均无法有效降低测试成本。 

因此本实用新型公开一种新的测试架构与方法，针对具有双边栅极驱动的GIP面板，减少测试设备的需求，进而降低测试成本。 

实用新型内容

本实用新型是提出一种测试GIP面板的架构与方法，较于传统方法，应用本实用新型可节省执行测试时所需的测试设备。本实用新型的GIP面板的测试结构，包含有：一显示器面板，在该显示器面板的第一片基板上有一第一栅极驱动电路、一第二栅极驱动电路、复数条栅极线、与复数条源极线；一复数个串接衬垫，被制作于该第一片基板上，该复数个串接衬垫均电性连接至该第一栅极驱动电路。该第一片基板可为显示器面板之上基板或下基板， 该基板上的栅极驱动电路可被设置为具有移位缓存器功能，而得以分时启动(activate)基板上的该些栅极线。 

在测试该显示器面板时，该复数个串接衬垫会经由一测试系统电性连接至该第二栅极驱动电路，使一测试信号可依序由第一栅极驱动电路，经过该复数个串接衬垫与该测试系统，而传送到第二栅极驱动电路。相反地，该复数个串接衬垫亦可被设计为与第二栅极驱动电路电性连接，然后于测试显示器面板时，再由该测试系统电性连接至第一栅极驱动电路。 

该测试系统包含有：一探针治具，该探针治具上有一控制线路与复数个探针，于执行测试时，该控制线路可将基板上该复数个串接衬垫电性连接到第二栅极驱动电路；该测试系统上的复数个探针可分别与第一栅极驱动电路、第二栅极驱动电路与该复数个串接衬垫电性连接；一针测机台，该针测机台装载着该探针治具，并控制该探针治具与第一栅极驱动电路、第二栅极驱动电路及该复数个串接衬垫的电性连接；一信号产生器，用以产生包含有一频率信号、一频率的反相信号、一启动信号、一参考电压信号与复数个电压脉冲信号等测试信号。 

执行本实用新型的GIP面板测试方法，包含有：使用上述的显示器面板的该第一片基板，及使用上述的该测试系统；于测试动作时，该针测机台控制其所装置的探针治具，使该探针治具上的复数个探针分别与第一栅极驱动电路、第二栅极驱动电路、该复数个串接衬垫电性连接；其中该复数个串接衬垫会经由该探针治具上的控制线路电性连接至第二栅极驱动电路；故当测试系统中的信号产生器送一测试信号到第一栅极驱动电路后，该电路会分时依序逐条启动栅极线，直到该电路所控制的最后一条栅极线时，该测试信号会被传送到第一片基板上的复数个串接衬垫、然后由探针治具上的复数个探针与控制线路传送到第二栅极驱动电路，该驱动电路也同样分时依序逐条启动其所控制的栅极线，直到测试完成。 

在执行测试显示器面板时，其第一片基板上的第一栅极驱动电路与第二栅极驱动电路会先被设置为具有移位缓存器功能；为避免模糊本实用新型的焦点，不在此赘叙移位缓存器的原理与详细功能；其结果是该测试信号可经由第一栅极驱动电路与第二栅极驱动电路分时依序启动显示器面板上的复数条栅极线。所谓分时依序启动是指栅极驱动电路可以如移位缓存器的功能，以一频率(clock)启动某一条栅极线，逐条启动，直到扫过所有的栅极线。