[实用新型]GIP面板的测试结构

权利要求书

1.一种GIP面板的测试结构，其特征在于，包含有：

一显示器面板，在该显示器面板的第一片基板上有一第一栅极驱动电路、一第二栅极驱动电路、复数条栅极线、与复数条源极线；

一复数个串接衬垫，被制作于该第一片基板上，该复数个串接衬垫均电性连接至该第一栅极驱动电路；

在测试该显示器面板时，该些串接衬垫会经由一测试系统电性连接至该第二栅极驱动电路，使一测试信号可依序由该第一栅极驱动电路，经过该些串接衬垫与该测试系统，而传送到该第二栅极驱动电路。

2.如权利要求1所述的GIP面板的测试结构，其特征在于，该显示器面板包含有一上基板与一下基板，该第一片基板可为该上基板或为该下基板。

3.如权利要求1所述的GIP面板的测试结构，其特征在于，该些串接衬垫可被设计为与该第二栅极驱动电路电性连接，然后于测试该显示器面板时，再由该测试系统电性连接至该第一栅极驱动电路。

4.如权利要求1所述的GIP面板的测试结构，其特征在于，该测试系统包含有：

一探针治具，该探针治具上有一控制线路与复数个探针，于执行测试时，而该些探针可各与该第一栅极驱动电路、该第二栅极驱动电路与该些串接衬垫电性连接；

一针测机台，该针测机台装载着该探针治具，并控制该探针治具与该第一栅极驱动电路、该第二栅极驱动电路、及该些串接衬垫的电性连接；

一信号产生器，用以产生该测试信号。

5.如权利要求4所述的GIP面板的测试结构，其特征在于，该控制线路可将该些串接衬垫电性连接至该第二栅极驱动电路。

6.如权利要求4所述的GIP面板的测试结构，其特征在于，该信号产生器可产生包含有：一频率信号；一频率的反相信号；一启动信号；一参考电压信号；复数个电压脉冲信号。

7.如权利要求4所述的GIP面板的测试结构，其特征在于，该些串接衬垫会经由该探针治具上的该控制线路电性连接至该第二栅极驱动电路；

使该信号产生器能送一测试信号到该第一栅极驱动电路；该测试信号会再经由该些串接衬垫、该些探针与该控制线路传送到该第二栅极驱动电路。